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为了证明无Al激光器在可靠性方面优于有Al激光器，对InGaAsP/GaAs无Al和AlGaInAs/AlGaAs/GaAs有Al的808 nm大功率半导体激光器进行了常温下电流步进加速老化寿命试验，介绍了半导体激光器寿命试验的理论依据，给出寿命试验的数学模型，据此得到了器件在常温电流步进条件下的寿命，利用最小二乘法拟和得到加速老化的加速方程，从而推算出激光器的特征寿命，分析了有Al激光器和无Al激光器寿命对比结果，提出了材料中含Al对器件可靠性的一些不良影响，无Al激光器可靠性明显优于有Al激光器。