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为压缩内建自测试（BIST）期间所需测试数据存储容量，提出了一种新的基于测试数据两维压缩的BIST、方案。建议方案首先使用多扫描链相容及重排的方法对测试集进行宽度压缩，然后使用折叠计数器方案进行长度压缩，该建议方案的结构与标准的扫描设计是相容的；试验结果表明，与其他BIST方案相比，建议方案的测试数据存储容量和测试时间都大量减少。