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研究了存储器内建自测试（MBIST）和存储器自修复（MBISR）技术，改进了基于一维冗余（冗余行块）结构的嵌入式存储器修复策略。首先将存储阵列和冗余阵列划分为多个行块，然后采用存储器自测试方法定位故障单元的行地址和行块地址，最后任何可利用的冗余块可以被用来修复故障单元。通过16×32比特静态随机存取存储器（SRAM）的电路自修复实验，验证了该修复策略的可行性和较高的故障修复率。与传统的基于一维冗余结构的修复策略相比，该修复策略提高了替代故障单元方法的灵活性和冗余资源利用率，从而提高了存储器的故障