测试生成算法相关论文
在基于遗传算法组合电路测试生成算法中,针对适应度函数构造复杂的特点,提出了组合电路测试生成算法.该算法简化了适应度函数的构......
针对集成电路的规模和复杂度不断增加而相应的测试却越来越困难的问题,本文提出了一种基于三值神经网络的组合电路测试生成算法。......
在数字集成电路多故障测试生成算法的研究中,寻求具有高故障覆盖率,较短测试生成时间是问题的关键。文中采用遗传算法,通过对已有......
该课题提出并开发的“测试算法评估及可测性预报系统”旨在不实施任何具体测试生成算法的情况下,对各种不同测试算法的可测性参数（......
该文介绍的“组合电路和时序电路特征参数的提取”的方法是该系统中的一个重要组成部分.作者通过对目前比较成熟通用的测试生成算......
由于软件产品在社会各领域的应用范围越来越广,软件系统中的缺陷会造成更为广泛和严重的后果,这给软件可靠性保证工作提出了新的挑......
面向应用的FPGA测试方法仅针对影响FPGA特定用户功能电路正常运行的故障进行测试,由于FPGA采用LUT元件为基本单元的电路实现方式与......
电子线路在使用过程中发生故障是不可避免的。对于发生故障的电路板，我们总是想尽办法来找出它的故障所在。随着电子系统日趋复杂，传......
随着半导体存储器工业技术、深亚微米工艺技术及芯片生产工艺技术的快速发展，电路的工艺尺寸不断减小，电路的集成度、复杂度与日俱增......
针对数字电路中多侵略线串扰时滞故障将使电路不能正常工作的问题,提出了一种有效的测试生成算法。该算法首先使用Kernighan-Lin-F......
针对时滞测试能量函数,分析了它在无冒险强健测试矢量生成时存在局限性和表达式较复杂的不足.在此基础上建立了无冒险条件下的时滞......
为了在保证测试精度的前提下提高模拟测试生成算法测试效率,提出了一种基于极限学习机的模拟测试生成算法.首先利用极限学习机对采......
为了能对现有的通用自动测试设备（GPATE）的诊断能力做出合理评估，从测试算法的角度，对电子电路测试领域内的两种主要GPATE系统：数字ATE......
文章介绍了一种采用基本逻辑门单元的完全测试矢量集生成测试矢量的方法,该方法可以将搜索空间限制在2(n+1)种组合内.它采用故障支......
为了改善组合电路测试生成效率，提出了一种有效的基于三值神经网络的组合电路测试生成算法。该算法不需要传播和回溯，而是使用三值神......
本文对近年来国内外学者在时序电路测试生成方面的研究成果进行了综述,对其做了比较、分析,并在前人研究的基础上提出一种时序电路......
为搭建基于FSM的测试方法由理论研究通往工业应用的桥梁,文中讨论了若干基于FSM模型的测试方法及其相关理论,提出构造区分序列的理......
为进一步提高航天器测试效率和测试覆盖性,提出了一种基于状态图的航天器测试用例设计方法,以状态图模型作为测试用例设计的依据,......
介绍了一种基于神经网络的组合电路测试生成算法.该算法不同于传统的方法是它既不需要回退也不需要故障传播的过程.利用Hopfield神......
结合一个实际电路,研究了一种可把数字电路故障定位到器件级的测试向量生成算法.该算法首先划分电路功能块,然后基于功能测试的思......
本文在基于友障模拟的测试生成算法基础上,提出了一种初始测试矢量的生成方法,即采用神经元网络模型来生成初始矢量,既避免了随机......
测试生成算法评估与预报系统分别利用回归算法、神经网络算法和遗传算法为测试生成算法建立预报模型，使得对给定电路，不必实际运行测......
对于复杂的大规模集成电路,传统的测试生成算法已不再适用,研究新型有效的数字集成电路测试生成算法具有十分重要的理论价值和实际......
提出一种有效的数字电路故障阈值故障测试生成算法。首先构造出数字电路的阈值测试模型,通过这个模型可以区分出可接受故障和不可......
<正>The algorithms for feedrate profile generation,such as linear and S-curve profiles,have been widely used in machiner......
1 可测试设计和必要性和可能性“数字电路”是《脉冲与数字电路》课程的主要组成部分.这门课程在经历了约15年的教学之后已经比较......
针对数字电路中的可接受故障提出了一种有效的基于阈值的测试生成算法。该算法构建了数字电路的阈值测试生成模型,使用此模型能够......
针对集成电路的规模和复杂度不断增加而相应的测试却越来越困难问题,提出了一种基于三值神经网络的组合电路测试生成算法.该算法不......
针对求解布尔差分要做大量的异或运算,特别是求解高阶布尔差分繁琐的问题,提出一种具有约束条件的布尔差分简化方法。通过对布尔差......
模拟电路的故障诊断和失效预测是电子系统健康管理(Prognostics and Health Management,PHM)研究中的研究热点。由于失效预测相比......
微电子技术是当今发展最快的技术领域之一。随着集成电路设计及工艺技术的发展，电路的规模和复杂度日益增大，芯片故障的测试日趋困难......
在集成电路(IC)芯片广泛应用于电子信息系统、产品质量要求日益提高的大趋势下,为尽量减少芯片制造中产生的故障导致信息系统失效,......
数字集成电路是当今发展最快的技术领域之一,随着数字电路设计及工艺技术的发展,电路的规模和复杂度日益增大,使得电路的测试生成......
数字集成电路是当今发展最快的技术领域之一,随着数字电路设计及工艺技术的发展,电路的规模和复杂度日益增大,使得电路的测试生成......
数字电路模型的高级化是 VLSI 技术发展的必然趋势,本文阐述了两类目前较有代表性的高级模型方法即算法式方法和启发式方法,同时对......
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