测试向量相关论文
随着存储器的不断发展，实现存储器全地址多功能测试所需要的向量深度也迅速地变大，有些甚至已经超出了测试系统本身存储容量的限制，因......
集成电路是新一代信息技术战略产业的基础,关乎国家的信息安全和经济安全。集成电路测试是集成电路产业链的关键技术环节,贯穿于设......
SOC可以有效地降低电子信息系统产品的开发成本,缩短开发周期,提高产品的竞争力,是未来工业界将采用的最主要的产品开发方式。为了......
提出了一种用于数字IC测试仪的逻辑功能测试单元的设计方法。本文介绍了数字IC测试仪的系统组成及逻辑功能测试的基本原理，给出了基......
本文提出了一个基于LFSR-ROM的BIST方案,它利用ATPG产生测试向量过程中剩余的随意位,压缩存放测试向量的ROM.文章介绍了带随意位测......
在超深亚微米工艺和GHZ的时钟频率下,长互连线之间的串扰现象严重,影响VLSI系统的整体性能.研究人员提出了MT故障模型,这种模型同......
本文对一款应用于有线数字电视传输中信道解调解码芯片中内嵌模数转换器的测试方法进行了研究,在分析芯片功能和引脚的基础上,列出......
新一代的自动测试设备具有更丰富的可配置资源,但同时也使得传统的手工配置测试资源的方法变得十分困难.为自动优化配置测试资源,......
本文通过调整测试向量中未确定位的数目,来考察测试向量中未确定位对测试功耗优化的影响.ISCAS85和ISCAS89电路集的实验结果表明:......
随着工艺的发展，尤其到45nm以下，工艺波动、串扰、电源噪声分布以及阻性短路和开路等会引入大量小时延缺陷(small delay defect)，这些......
新型可编程器件ＧＡＬ讲座 第二讲ＧＡＬ器件的开发杜恩祥，肖玉芳，王红霞一、ＧＡＬ器件开发工具简介ＧＡＬ器件的开发工具包括硬件开发工具——编程器和软件......
附录线性反馈移位寄存器(LFSR)理论由于线性反馈移位寄存器在结构上简单而且相当规则,其移位性质容易与串行扫描结合起来,而且能......
本文主要依据《A Tutorial onBuilt—in Self—test》Part Ⅱ:Applications,IEEE Design ＆ Test of Computers June 1993PP67—77编......
将EDA(电子设计自动化系统)及ATPG(自动测试图形产生)工具与ATE(自动测试设备)集成在一起,使得I_(DDQ)测试更为实用。
Integratin......
首先讨论PLA结构和集合锐积的性质，然后讨论了集合锐积在PLA测试过程中的应用，最后分析了集合锐积在程序实现时遇到的问题以及目前的......
首先建立缺陷空间分布和粒径分布的模型，并讨论了缺陷通过版图产生电路错误的过程，给出了ＩＣ功能成品率模拟器ＸＤ－ＹＥＳ的实现。用ＸＤ－ＹＥＳ对微电子测试图......
随着IC集成度的大幅度提高,管脚密度的增大,用来保证产品最终质量的板测试技术受到了严峻的挑战,在NEPCON’96北京研讨会上美国泰......
本文在边界扫描原理的基础上,对几种边界扫描单元(输入,输出,三态输出,双向)的结构做了设计和实现。
Based on the principle of ......
本文概述了数字系统的内装自测试(BIST)的原理和实现。在第Ⅰ部分,作者提出了BIST的各种论点以及经济上的优劣,并介绍了有关的分层......
本文基于在缺陷空间分布和粒径分布的模型，研究并讨论了计算集成电路（ＩＣ）功能成品率的理论和模拟ＩＣ功能成品率的方法．为了验证所研究方法和......
提出了部分扫描可测性设计的最优实现方法，包括扫描触发器的选取、组合功能块的划分、扫描链的排序以及测试码生成等几部分内容
Th......
如今,进行高密度专用集成电路(ASICs)的测试绝非易事,有时几乎是不可能的。解决的办法是:使用可测试性设计(DFT),将电路设计和生......
采用现场可编程门阵列（ＦＰＧＡ）技术设计与实现了一种低成本、高性能的专用集成电路（ＡＳＩＣ）功能测试仪——ＮＰＵＡＳＩＣ测试仪。测试管脚多达１２８路，每路独立可编程，具......
Formal Check是一种形式验证工具。它可以验证设计的功能,但是并不需要使用测试向量。该工具用在寄存器传送级的设计阶段,在对整......
今天的电子工业中，专用集成电路是一个公司产品区别于其它公司产品的重要因素。在消费类电子产品、通信和计算机工业，必须靠发展更新......
随着高速集成电路的发展,对时滞测试的研究越来越重要了,时滞测试的主要困难来自于与电路的门数成指数增长的庞大通路数,以及大量......
文章分析了现有的电气网络互连故障的并行测试方法，指出它们在故障诊断上的局限性。提出了评价测试向量集及其生成算法的系统化方法......
文中在分析改良计数算法和移位“1”算法的基础上,提出了一种新型的边界扫描测试向量生成算法——等权值算法。该算法实现了测试向......
本文讨论了VLSI功能测试的自动测试生成算法,并给出实用的算法模型。
This article discusses the VLSI functional test automat......
以提供逻辑综合工具著名的Synopsys公司,又增加了门级验证工具Formality(形式上等效的验证工具)。使用等效验证工具,可以验证同一......
I_(DDQ)测试是当前倍受国内外业界人士关注的一种新的CMOS集成电路测试方法和技术。这种测试是在多种输入逻辑条件下测试CMOS电路......
本文讨论了在源输入的确定赋值数最小时组合电路的测试生成方法后，介绍了基于可满足性的测试向量压缩的整数线性规划(ILP)模型。利......
IEEE 1149.1边界扫描机制是一种新型的VLSI电路测试及可测试性设计方法 ,在边界扫描测试过程中 ,生成合理的测试向量集是有效应用......
“MCU高层语言描述及其嵌入式技术研究”和“８位微处理器高层语言描述的研究”是国家重点科技攻关项目“微控制器（MCU）系列产品开发及......
随着半导体制造商开发出越来越先进的IC和SoC芯片,与之相关的测试复杂性也大大的增加,以至于使测试的成本占到总制造成本的50%。......
如今的设计复杂程度很高,这就需要进行系统级设计。系统级设计离不开EDA工具的支持,但EDA工具的开发却跟不上半导体公司和系统公司......
寄存器传输级(RTL)测试产生及时延测试是当今集成电路(IC)测试技术中亟待解决的问题和研究的热点.首先从IC逻辑测试的测试产生和IC......
随着设计规模的扩大,设计复杂度的提高,以及SoC的大量出现,如何缩短涉及的开发周期,如何提高设计的质量,如何在设计伊始尽可能的保......
当今的IC和印制电路板非常复杂,需要进行大量而且复杂的测试,因而电子产品的开发和制造成本大幅度上升。
Today’s ICs and print......
数字信号测试作为VLSI芯片测试的基础,已经是一项应用十分广泛的技术。各个EDA供应商、ATE供应商都有着十分成熟的解决方案,包括功......
本文介绍了测试技术的演进,并例举了Synopsys公司,Syntest Technologies等公司在研发DET技 术中的例子。
This article describes......
在单颗硅芯片上设计更多系统功能(SOC)的趋势,增加了IC的开发与制造测试的复杂度。未来对于较高速度与较多管脚数的需求,将使传统......
