自动测试生成相关论文
增强测试质量和抑制测试代价是超深亚微米集成电路测试及可测性设计领域的两个研究主题。这篇论文介绍了一个面向多种故障模型的超......
ATSG(automatic test suite generation)是自动测试生成工具,它能够从协议的Petri网模型自动生成符合ISO/IEC 9646-3标准的TTCN测......
2000年全国测试学术会议于2000年10月16日至2000年10月18日在北京装甲兵工程学院举行。此次学术会议将“全国测试与故障诊断会议......
该文首先从面向故障的确定性测试产生问题全面和系统地综述了与FAN算法有关的主要研究成果.作为该文研究的基础和重要组成部分,作......
软件应用领域的不断扩大以及软件规模与复杂性的不断增加,给软件测试提出了更高的要求。软件测试自动化是提高软件测试效率的有效......
§1 概述由于计算机的规模越来越大,组件的集成度越来越高,逻辑结构越来越复杂,借助于计算机来测试插件的要求也越来越显得迫切。......
有限状态机(FSM)是一种实现时序逻辑的常用设计模式,目前更加广泛地被应用于数字系统中控制逻辑的实现.本文主要介绍对基于PLA 实......
本文综述数字电路可测试性设计中的各种可测试性分析算法及其评价和应用。
This article reviews various testability analysis ......
对模拟电路故障诊断理论及其方法运用科学技术方法论的观点进行考察,提出一种新的分类方法,以反映该领域的研究现状和动向,以供对......
数字电路的测试生成问题是长期以来制约集成电路发展的难题,找到有效的数字电路测试生成方法具有非常重要的理论和现实意义。随着......
本文论述了将粒子群算法应用在时序电路自动测试生成的研究结果。结合时序电路的特点，构造测试生成的粒子表达方式，建立自动测试生成......
分析了用边界扫描测试结构实现芯片功能级测试的方法，提出了一种基于逻辑电路的仿真波形生成电路功能级边界扫描测试代码的方法．利用......
基于遗传算法生成的测试矢量集的故障覆盖率要低于确定性方法．本文分析指出造成这种现象的一个可能原因在于，组合电路测试生成过程中......
已有的数字电路自动测试生成（ATPG）软件没有存储器的结构模型,不支持对存储器电路的自动测试生成。该文分析了2类存储器的功能特征,......
本文介绍将量子进化算法应用在时序电路测试生成的研究结果。结合时序电路的特点，本文将量子计算中的量子位和叠加态的概念引入传统......
为解决同步时序电路的测试难题,提高时序电路测试生成效率,进行了时序电路测试生成算法的研究,将粒子群优化算法应用在时序电路的......
随机测试是一种常用的软件测试自动化方法。该方法随机地从程序输入域中选取测试输入,其自动测试实现容易。但随机地从输入域中选......
本文介绍了一个设计自动化系统——SZDAS-1。这是一个以中心数据库为核心,从逻辑设计自动化到物理设计自动化在内的集成系统。文中......
基于控制流图数据流图层次模型,以分支覆盖、位功能覆盖以及语句可观测覆盖为目标,给出一个高层测试用例生成算法,并最终实现一种......
作为软件质量保证的重要手段,软件测试发挥着其他方法不可替代的作用,设计和生成有效的测试数据是影响软件测试质量的关键因素之一......
随着电路复杂性和集成度的不断提高，测试已成为妨碍LSI/VLSI付诸应用的瓶颈。虽然各国学者在数字电路测试生成上已做了大量的工作，时......
集成电路(Integrated Circuit,简称IC)的设计验证和测试是确保数字系统正常工作的必要手段。无论是设计验证还是芯片测试,测试生成......
集成电路设计已经广泛使用HDL硬件描述语言作为输入，RTL（寄存器传输级）电路描述介于行为描述和逻辑门级描述之间，既具有电路功能的信息......
