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软件应用领域的不断扩大以及软件规模与复杂性的不断增加,给软件测试提出了更高的要求。软件测试自动化是提高软件测试效率的有效......
本文论述了将粒子群算法应用在时序电路自动测试生成的研究结果。结合时序电路的特点，构造测试生成的粒子表达方式，建立自动测试生成......
分析了用边界扫描测试结构实现芯片功能级测试的方法，提出了一种基于逻辑电路的仿真波形生成电路功能级边界扫描测试代码的方法．利用......
基于遗传算法生成的测试矢量集的故障覆盖率要低于确定性方法．本文分析指出造成这种现象的一个可能原因在于，组合电路测试生成过程中......
已有的数字电路自动测试生成（ATPG）软件没有存储器的结构模型,不支持对存储器电路的自动测试生成。该文分析了2类存储器的功能特征,......
本文介绍将量子进化算法应用在时序电路测试生成的研究结果。结合时序电路的特点，本文将量子计算中的量子位和叠加态的概念引入传统......
为解决同步时序电路的测试难题,提高时序电路测试生成效率,进行了时序电路测试生成算法的研究,将粒子群优化算法应用在时序电路的......
随机测试是一种常用的软件测试自动化方法。该方法随机地从程序输入域中选取测试输入,其自动测试实现容易。但随机地从输入域中选......
作为软件质量保证的重要手段,软件测试发挥着其他方法不可替代的作用,设计和生成有效的测试数据是影响软件测试质量的关键因素之一......
集成电路(Integrated Circuit,简称IC)的设计验证和测试是确保数字系统正常工作的必要手段。无论是设计验证还是芯片测试,测试生成......
集成电路设计已经广泛使用HDL硬件描述语言作为输入，RTL（寄存器传输级）电路描述介于行为描述和逻辑门级描述之间，既具有电路功能的信息......
集成电路（IC）被生产出来以后要进行测试。IC测试贯穿在IC设计、制造、封装及应用的全过程,被认为是IC产业的4个分支（设计、制造、封装......
