IC测试相关论文
在IC(IntegratedCircuit)制造业，随着IC芯片体积的不断减小，引线密度的不断提高，对IC加工设备的要求也不断提高。无论是在IC的封装还......
2004年,90纳米制造工艺进入量产阶段.纳米器件的生产对集成电路自动测试设备(ATE)的发展产生了很大的影响.......
介绍了一种集成电路自动测试系统,该系统采用计算机并口作通信接口,用VB6编程,实现了对外围测试电路的控制,用IEEE-488接口卡控制......
介绍了IC在要害系统的应用现状.对IC在要害系统的应用特点、应用策略、相关支持技术、IC的失效分析及故障测试技术进行了探讨.该技......
本文从半导体产业的飞速发展,新型集成电路ASIC、SOC等器件的出现,分析了对IC测试提出的新要求和挑战.阐述了ATE(自动测试设备)产......
IC测试技术是有着四十多年历史的一项应用科学技术,其适应整个IC产业的需求在神州大地悄然兴起,展望未来必将促进集成电路测试业的......
集成电路（IC）测试是集成电路产业的重要一环。设计、制造、封装、测试四业并举，是国际集成电路产业发展的主流趋势。“北京集成电路测......
本文研究了如何运用优化测试程序的方式提高测试效率。列举了正常测试程序流程的不足，阐明了使用正常测试程序流程和改良后的测试程......
该文提出了一种基于内建自测试(BIST)的Test-Per-Clock混合模式向量产生方法。测试由两个部分组成:自由线性反馈移位寄存器(LFSR)......
介绍了一种基于γ编码的IC测试向量集的压缩和解压缩方法,通过对自拟测试向量和ISCAS Bench-mark的测试向量的压缩分析,发现γ编码......
前不久，从事半导体测试业务的惠瑞捷公司由于在产品质量、产品性能、技术领先性、以及服务和对客户的承诺等方面的出色表现，首次荣获......
针对图像处理ASIC测试平台无法兼容的问题,设计了一种基于DSP的通用图像处理ASIC测试平台.该平台以DSP为控制核心,采用FPGA作为DSP......
ue＊M＃’＃dkB4＃＃8＃”专利申请号:00109“7公开号:1278062申请日:00.06.23公开日:00.12.27申请人地址:（100084川C京市海淀区清华园申请人:清......
随着数字集成电路的不断发展,集成电路的瞬时功耗也在不断提高,对于芯片供电具有一定的挑战。本文结合一款瞬时功耗较大的芯片,介......
政府积极支持IC设计产业发展根据2000年6月24日国务院发布的<鼓励软件产业和集成电路产业发展的若干政策>18号文件,税务部门对芯片......
作为32位RISC微处理器主流芯片,ARM芯片得到长足发展和广泛应用。因而,ARM芯片的测试需求更加强劲的同时,测试工作量在加大,测试复......
本文概述了I2C串行总线协议原理,研究了采用I2C串行接口的数字芯片的测试方法。在此基础上,研究了I2C串行接口时钟/日历芯片SCG103......
集成电路设计是一项投入高、研发周期长、风险大的行业,为保证设计过程中每一环节都正确可靠,验证工作必不可少。随着IC集成度的提......
随着高速数字电路如专用集成电路AISC、片上系统SOC和超高速混合信号处理电路ADC、DAC等集成电路数字端口的数据率提升,被测集成电......
IC(Integrated Circuit)测试是IC工业领域中重要的组成部分。IC测试系统是可以自动实现IC测试的系统。IC参数，如时间参数、直流参数......
随着科学技术发展,高精度带电粒子径迹的像素探测器被广泛用于高能物理实验。我校硅探测器实验室自主研发设计了一款顶层金属像素......
随着计算机技术、网络技术和嵌入式技术的不断发展、测试对象的不断增加及测试要求的不断提高,集成电路自动化测试系统总线技术也......
集成电路（IC）被生产出来以后要进行测试。IC测试贯穿在IC设计、制造、封装及应用的全过程,被认为是IC产业的4个分支（设计、制造、封装......
介绍了数字IC可测性设计(DFT)的概念和方法及其在电子设计自动化(EDA)环境中的实现流程.DFT实质上就是在设计时更改或添加设计结构......
随着集成电路的快速发展,大规模SOC集成电路对于功耗的要求也越来越严格,更加精准的功耗测试有利于SOC集成电路的性能分析,而ATE具......
