采用深紫外光致发光技术测量AlxGa1-xN半导体异质外延膜的禁带宽度,结合Material Studio软件中的CASTEP模块模拟计算AlxGa1-xN异质......

介绍了目前可用于A1GaN半导体异质外延膜中Al组分含量测定的多种测试技术，包括高分辨x射线衍射技术、光致发光法、紫外一可见光透射......

高质量的高Al组分AlGaN材料是制备短波长发光二极管、激光器以及光电探测器等光电器件的重要材料,通过测试手段对材料进行表征从而......