偏压温度不稳定性(BTI)相关论文
集成电路按照摩尔定律和按比例缩小的规律持续发展。在器件小型化的过程中,出现了许多新的问题。其中,纳米MOSFET的关键可靠性问题......
随着MOSFET尺寸的不断缩小,器件的功耗问题和可靠性问题成为制约集成电路发展的重要因素。为了降低集成电路的功耗,隧穿场效应晶体......
半导体器件模拟工具通过数值计算,让我们以虚拟的方式考察半导体器件内部的工作和物理过程,从而帮助我们分析和理解器件的工作原理......
