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热载流子注入效应(HCI)相关论文
隧穿场效应晶体管和InGaAs场效应晶体管的可靠性研究
随着MOSFET尺寸的不断缩小,器件的功耗问题和可靠性问题成为制约集成电路发展的重要因素。为了降低集成电路的功耗,隧穿场效应晶体......
学位
隧穿场效应晶体管(TFET)
InGaAs场效应晶体管
可靠性
偏压温度不稳定性(BTI)
热载流子注入效应(HCI)
界面陷阱
氧化层电荷
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