参数成品率相关论文
将电路仿真与主观设计经验相结合,建立成品率估计的置信规则库（BRB）推理模型,该模型不仅可建模输入电路参数变量与输出参数成品率之......
在纳米工艺下,为了更好地抵抗工艺波动的影响,减小位于标准单元边界处的MOS管沟道长度随聚焦误差引起的变化,提出在现有版图基础上......
硅片上互连线几何变异提取对于超深亚微米工艺节点下集成电路可制造性设计研究开发极其关键。这里基于电阻和电容等电学测试结构相......
在芯片制造工艺中,参数扰动影响了集成电路（Integrated Circuit,IC）成品率,使不同参数成品率间存在着此消彼长的相互制约关系,而目前......
本文给出了一种基于均匀试验设计的响应表面模型,同时得到该模型在VLSI集成电路参数成品率中的优化方法.本方法首先对电路的关键参......
提出了一种新的集成电路参数成品率的全局优化算法——映射距离最小化算法．该算法采用了均匀设计与映射距离最小的耦合优化，每次迭代......
超大规模集成电路(VLSI)中的参数成品率最优化问题一直是集成电路可制造性设计的重点研究问题．尽管重心游移算法提出得较早，由于其固......
作为有史以来发展最为迅速的工业之一,半导体工业的进步使大规模集成电路的特征尺寸不断缩小、芯片集成度不断提高。如今,半导体芯......
本文对集成电路(IC)制造过程中的参数成品率问题进行了系统的研究，主要贡献和结果如下： 在中心值设计和容差分配的基础上，提出了一......
不论在集成电路设计阶段还是制造阶段，电路规模的增大以及器件关键尺寸的缩小都为成品率的改善提出了巨大的挑战。随着规模的增大，电......
随着集成电路设计向系统集成的方向发展，落后的模拟集成电路设计自动化水平已成为制约数模混合系统发展的瓶颈。电路优化技术是实现......
本论文主要研究了集成电路参数成品率的效益协调优化模型，在中心值设计、效益极大化模型的基础上提出了一种基于产品最优分档的整体......
