荷电效应相关论文
在以往文献中,关于有机锂化合物中锂的价键性质的研究,大多是碳-锂键的化合物,而对氧-锂键化合物的报道尚不多。本文报道应用X光......
我们应用X光电子能谱(XPS)分别对甲基硅树脂、三甲基硅基化硅树脂、甲基硅胶橡、甲基苯基硅胶橡以及石英粉等试样进行了Si_(2P)、......
三、光电子能谱在有机化学中的应用本讲利用前两讲叙述的原理和实验方法,举例说明光电子能谱在有机化学领域中的具体应用。 1.一......
对于YBa_2Cu_3O_(～7)超导体的Ba 3d X光电子能谱(XPS)存在分裂(出现肩峰)的现象有很多不同的解释.Kohiki等认为主峰和肩峰分别代表......
PbO_2膜被不完全电化学还原时,能够同时生成多种还原产物.X射线光电子能谱是鉴定这类复杂氧化物膜中元素的化学态及膜组成的有效工......
纳米尺度上的电荷分布表征一直充满挑战,因为纳米结构中往往电荷量极低且易受外场影响而变化。例如:电子束辐照下样品会因荷电效应......
发展高性能疏松纳滤（NF）膜实现染料与无机盐高选择性分离一直学术界和工业界所面临的挑战。本文以聚醚砜（PES）和亲水性磺化聚砜（SPSf）为......
铝焊垫表面残留物的检测是确保铝焊垫质量的重要指标。俄歇电子能谱仪(AES)由于检测区域小、表面分析灵敏度高,被广泛用于集成电路......
前言尽管表层原子在整个固体中所占比例甚少,但因表面态在元素组成、化学组成、空间结构与体内的明显差异,对材料的性能却起着极......
本文报道了俄歇参数法用于SiO_2/Si界面层硅过渡态的研究。使用一种新的AlK_α-AgL_α混合X射线激发源,获得了界面层上Si_2P,Si KL......
本文用低能离子散射谱(ISS)研究MoO_3/γ-Al_2O_3催化剂的表面结构。ISS的I_(Mo)/I_(Al)与时间的关系即深度剖析曲线表明,MoO_3在......
用X射线光电子能谱(XPS)初步研究了Cs,Sr,Eu,Ce在长石、云母、角闪石表面的吸附行为。通过观察矿物中氧结合能谱的化学位移,对吸附......
再制造工程和表面工程对循环经济贡献分析阐述了再制造工程在循环经济中的地位和发展背景,剖析了废旧发动机在材料水平、零件水平......
陆昉,复旦大学物理系教授,博士生导师,曾任复旦大学物理系系主任。在他任物理系系主任的六年时间里,深受全系师生员工的赞誉,为全......
引言近年来,光电子能谱技术获得迅速发展,其应用的深度和广度都在不断扩大。这门技术的基础是精确测定物质中束缚电子的结合能量......
研究了电子束、离子束作用于Al2O3表面时成分的变化，表明无论电子束或离子束都能使Al2O3发生分解，产生导电的元素Al。实验在PHI610·......
本文以聚砜(PSF)中空纤维超滤膜为基膜，以三甲基烯丙基氯化铵(TMAAC)，二甲基烯丙基氯化铵(DMDAAC)这单体，通过紫外辐照接枝的方法，探讨......
扫描电子显微镜(SEM)成像技术是探索微米、纳米材料微观结构时使用最广泛的一种方法。然而，由于电子-固体相互作用中成像信号产生机......
采用脉冲偏压电弧离子沉积技术在玻璃基片上制备了透明的、具有择优取向的MgO薄膜。针对绝缘性薄膜表面的荷电效应,比较了脉冲偏压......
扫描电子显微镜对待测样品的要求极其严格，样品一定要不含水分、无磁性、无毒性且成分稳定，不导电和导电性差的样品要通过离子溅射仪......
场发射扫描电子显微镜(FESEM)在研究材料表面形貌领域有广泛的应用.荷电现象是扫描电镜中影响图像质量的重要原因之一.为了消除荷......
用低能离子散射谱(ISS)对比分析了与样品托有良好电接触的和与样品托绝缘的金属银片.观察到荷电效应对ISS分析有严重影响.实验还表......
在介绍扫描电子显微镜（SEM）的工作原理及特点基础之上，重点阐述了荷电效应、边缘效应、电子束损伤对分散类样品所造成的图像缺陷及相......
荷电效应是导致扫描电子显微镜(SEM)图像产生缺陷最重要原因之一,它会使SEM图像出现异常反差、畸变、像散、亮点与亮线等.该文通过......
采用X射线光电子谱（XPS）对BCN非晶纳米薄膜的结构进行表征。分别采用氩峰、荇染碳和沉积单层金3种元素峰位来校正在XPS测试过程中由......
在环境扫描电镜（ESEM）中配置加热台，对Al2O3样品进行加热实验。结果表明，Al2O3表面的荷电效应随温度的稳定升高而逐渐减小。当温度上升......
在环境扫描电镜(ESEM)中注入氧气,减少和消除绝缘样品表面在电子束辐照下产生的荷电效应.二次电子像的观察显示,在压力为130Pa～600P......
PVDF隔膜为绝缘高分子材料,在扫描电镜观察时易产生放电问题,降低了成像图片的分辨率与清晰度,使得到的电子图像不能反映样品表面......
介绍了制浆造纸学科常见样品如纸张、纸浆、粉末(造纸填料及助剂等)、膜等样品的扫描电镜(SEM)制样技术,并探讨了SEM成像过程中的......
用XPS分析绝缘样品时, 启用样品磁透镜有可能引起谱峰位移和峰形畸变,其原因是磁透镜的磁场与双阳极铝窗发出的低能电子发生了相互......
用俄歇电子谱仪对天然风化普通角冈石头表面化学进广了分析研究.AES具有很高的空问分辨率和进行深度截面分析的功能,从而能对亚微......
发现当使用Mg/Al双阳极和样品磁透镜进行非导电样品(或与样品托绝缘的导电样品)的X射线光电子能谱分析时,谱峰出现异常大的位移和......
在扫描电镜(SEM)中,通过记录和实时处理电子束辐照样品过程中产生的吸收电流La,评价非导电样品的荷电效应.对于非导电样品,La的绝......
对常规扫描电子显微镜的基本原理及其结构、荷电效应和像散对成像的影响和解决方法、样品要求和制备、观测条件的选择进行了较系统......
荷电效应起源于样品内部的电荷积累,常见于使用电子束探针技术对绝缘体材料进行表征的实验中。其可以在很大程度上影响实验测量结......
学位
本文分析了在环境扫描电镜中,Al2O3等非导电陶瓷样品的荷电效应和环境压力对X-射线能谱仪(EDS)元素分析造成的影响。研究了相应的......
扫描电子显微镜要得到层次清晰、立体感强且分辨率高的高质量图像,荷电效应是一个重要的影响因素。对在扫描电子显微镜成像中荷电......
荷电效应是导致扫描电子显微镜(SEM)图像产生缺陷最重要原因之一,它使图像出现异常反差、畸变等现象,严重影响图像质量。镀膜可以......
在扫描电镜(SEM)中,通过记录和实时处理电子束辐照样品过程中产生的吸收电流Ia,评价非导电样品的荷电效应。对于非导电样品,Ia的绝......
在论述了荷电效应、损伤、边缘效应这三种常见的扫描电子显微镜图像缺陷的基础上,分析了其产生的原因及解决方法,并展示了其结果.......
扫描电子显微镜(SEM)成像技术是探索微米、纳米材料微观结构时使用最广泛的一种方法。然而,由于电子-固体相互作用中成像信号产生......
本文研究高温扫描电子显微分析方法、实验技术和应用。本文构建了一个以环境扫描电镜(ESEM)为基础的原位加热和原位操纵的综合分析......
电子显微和电子能谱分析技术的迅速发展和广泛应用,需要理论方面的研究支持。本文首先简单介绍了扫描电子显微镜等相关探测技术的......
笔者简要介绍了扫描电子显微镜(SEM)的工作原理及其特点,详细阐述了荷电效应、像散对纳束材料成像的影响及解决方法,讨论了加速电......
