铜扩散相关论文
使用金相切片、扫描电子显微镜(SEM)、X射线能谱仪(EDS)等分析方法,研究了ENIG(Electroless Nickel and Immersion Gold,ENIG)工艺......
期刊
研究了2A12淬火板在气垫炉重复淬火对力学性能、铜扩散组织及晶粒度的影响,并分析了自然时效后不同冷变形量对力学性能、组织的影响......
测定了铜在单相α合金(Al-1.5wt%Cu-0.4wt%Si)和α+Si两相合金(Al-1.5wt%Cu.12.5wt%Si)中的扩散系数。单相α合金扩散偶(Al-3.0wt%Cu-0.4wt%Si/Al-0.4wt%S......
在90 nm工艺时代,接触孔工艺问题对于提升90 nm产品的成品率具有重要意义。基于在90 nm工艺中接触孔四周存在的较为严重的Cu扩散问......
通过对失效焊点界面合金层的仔细分析和实验验证,发现了过度回流以及镍镀层龟裂将使焊盘基材上镀层铜异常地长距离扩散到金属间化......
随着集成电路工艺进入深亚微米阶段,后端的金属互连大多采用铜互连技术。但由于铜的扩散问题,接触孔工艺还是采用钨填充技术。随着......
随着半导体器件尺寸的不断缩小,互连对芯片速度、可靠性、功耗等性能的影响越来越大。互连材料和工艺技术的改进成为集成电路技术......
研究了2024合金退火温度和退火保温时间对O态板材铜扩散的影响,同时研究了重复淬火次数、淬火保温时间对T42、T62态板材铜扩散的影......