回摆曲线相关论文
随着电子信息产业的高速发展,单晶材料的品质和加工技术越来越受到重视,其中对单晶材料的品质进行精确检测是一道关键工序。采用X......
利用X射线双晶衍射方法,测定了垂直腔面发射激光器(VCSEL)材料的衍射回摆曲线,除了主衍射峰(“0”级衍射峰外),还观察到一级和二级......
用分子束外延技术(MBE)生长了GaAs基共振隧穿二极管(RTD)的材料结构,利用X射线双晶衍射(XRD)方法对材料进行了测试分析.结果表明,......
运用X射线衍射技术,对InSb材料的结晶质量进行检测,是判定InSb材料质量的重要方法之一。采用2θ-ω对称扫描,对(111)、(333)、(044......
本文对用助熔剂提拉法生长的两种化学计量比LiNbO3晶体进行了测试分析,并与同成分LiNbO3晶体相比较.通过差热分析和X射线粉末衍射......
利用X射线双晶衍射方法,测定了垂直腔面发射激光器(VCSEL)材料的衍射回摆曲线,除了主衍射峰("0"级衍射峰外),还观察到一级和二级卫......
５晶（７晶）Ｘ射线衍射仪非常适合于高级半导体单昌，特别是Ⅲ－Ⅴ族和Ⅱ＝Ⅵ经合物半导体及其异质体外延层的特性分析。本文将简单地介绍５晶（７晶）Ｘ射线......
应用复合滤波技术和X射线Kα双峰分离技术开发了低成本X射线回摆曲线测定仪,用于测量单晶材料的物理特性.在此基础上,应用模型匹配......
用分子束外延技术（MBE）生长了GaAs基共振隧穿二极管（RTD）的材料结构,利用X射线双晶衍射（XRD）方法对材料进行了测试分析.结果表明,材料的......
用加压-改进Bridgman法生长的大直径HgCdTe(φ=40mm)晶体,通过X射线形貌技术分析表明,晶体结构包含有大量的亚晶粒,同时在晶片中观......
利用X射线双晶衍射方法,测定了分布布拉格反射镜(DBR)的衍射回摆曲线,除了DBR主衍射峰("0"级衍射峰)外,还观察到"1"级和"2"级卫星......
本文对用助熔剂提拉法生长的两种化学计量比LiNbO3晶体进行了测试分析,并与同成分LiNbO3晶体相比较.通过差热分析和X射线粉末衍射......
采用X光双晶衍射仪分析了GaN基发光二极管外延材料晶体结构质量并制成GaN-LED芯片，对分组抽取特定区域芯片封装成的GaN-LED器件进行......
简要介绍了X射线双晶衍射技术的原理；描述了双晶衍射技术的发展与演化.文中简要讲述了多晶衍射技术的应用范围及应用多晶衍射仪所能......
