薄膜测量相关论文
成像椭偏仪是一种新兴的椭偏测量仪器,因其兼具椭偏测量的薄膜测量精度和显微测量的高空间分辨率而吸引了大量从事二维材料性质研......
本研究采用HXD-1000硬度仪对以硅为基底的DLC膜的硬度进行了测量，表明随着压痕对角线长度的增加，基底硅硬度与DLC膜复合硬度是减小的......
本文用等离子体浸没离子注入与沉积(PⅢ&D)复合强化新技术在AISI1440C不锈钢基体表面合成了无氢类金刚石(α-C)和含氢类金刚石(α-......
本研究采用溶胶-凝胶法制备超疏水性薄膜,水滴在该薄膜上的接触角为154.2°。通过扫描电子显微镜(SEM)观察薄膜微观表面,发现薄膜......
本文采用层层组装的方法,将粒径为23nm的金纳米粒子组装在PDDA/PSS/PVTC的聚电解质膜上,制备LSPR传感膜，对其稳定性、灵敏度等方面......
本文通过光诱导方法在柠檬酸钠与硝酸银低摩尔比例(≤1)溶胶体系中实现了由三角形银纳米板转化为六边形纳米板,再继续转化为圆盘纳......
本文在玻璃基底上，用原位化学氧化聚合法,制备了聚邻甲基苯胺(POT)/TiO2纳米粒子复合物薄膜，通过扫描电子显微镜(SEM),x-射线粉末衍......
随着薄膜器件在光通信、航空航天、生物医学、新能源等前沿领域的广泛应用,薄膜技术的相关研究也日益深入。薄膜的厚度参数直接影......
本文在玻璃基底上，用原位化学氧化聚合法,制备了聚邻甲基苯胺(POT)/TiO2纳米粒子复合物薄膜，通过扫描电子显微镜(SEM),x-射线粉末衍......
通常用排列呈直线的四探针测量各向同性薄膜，但此方法不能直接用于测量具有各向异性的磁电阻簿膜，研究人员选择了呈矩形排列的四探针......
研究了一种采用横向塞曼激光器并且没有任何运动部件的外差干涉椭偏测量系统。由非理想的激光源、偏振分光镜等器件所产生的非线性......
成像椭偏仪是一种结合了椭偏测量技术与显微成像技术的测量仪器，它能够以高的空间分辨率完成对大尺寸样品的一次性参数测量。得益于......
太赫兹波段作为一个研究的空白区域，由于其在透视性、安全性等方面的优势，近几十年内得到了极大的发展。人们渐渐的开始从光波方向和......
随着光学薄膜膜系设计理论和镀膜技术的不断成熟和完善，高反射率光学薄膜的设计和制备已经成为现实，并且已经广泛应用于激光技术的研......
本文从光学薄膜激光损伤机理出发，对影响光学薄膜激光损伤阈值的因素和提高光学薄膜抗激光损伤的技术等进行了讨论。对于在不同制备......
该文提出了一种可同时测量膜厚的折射率的新型快速高灵敏度薄膜测量方法一外差椭偏纳米薄膜测量技术,给出了理论分析与设计、实验......
薄膜作为一种特殊的结构,具有与块状材料不同的独特性能,在光学、信息、生物、航天等领域得到广泛应用。薄膜的各种特性直接决定着......
薄膜外延生长质量提高是薄膜应用和研究的重要目标。工艺优化控制是影响生长工艺稳定性和生产良率的关键。特别是大尺寸外延生长，外......
磁性薄膜的应用越来越广泛,使得人们更加关注薄膜的磁性能表征。在磁性薄膜的很多应用中,其薄膜的厚度变得越来越薄,使得薄膜磁特......
随着激光技术的发展和高功率激光的广泛应用，给光学薄膜的发展带来了新的挑战。光学薄膜的吸收损耗是影响薄膜性能的重要参数，已成为......
本文根据椭圆偏振光谱测量技术研究对象的具体情况，针对衬底材料、单层膜、多层膜结构建立了相应的物理模型，编制了椭偏测量的最优化......
自导波光学问世以来,由于它在未来信息社会巨大的应用潜力,一直受到学术界和技术界的高度重视.经过三十余年的发展,今天已初步成为......
铁电薄膜具有铁电性、压电性、介电性、热释电性、光折射效应、电光效应和非线性光学效应等一系列特殊的物理性质,在非易失性铁电......
为了检测压电薄膜的在电场作用下的微小形变,同时避免基底弯曲效应的影响,设计了一 种双光束探测干涉仪,通过反馈控制和锁相检测技......
斯托克斯椭偏仪一般使用定标的方法来测量其仪器矩阵,其仪器矩阵的优劣直接影响了被测光线斯托克斯参量的精确度与稳定度,从而影响......
根据亚微压入仪的柔度测定，考察了仪器柔度对纳主入法测试材料表层硬度和弹性模量的影响，指出柔度因子主要影响卸载线的斜率，用单测点......
目的是将用于测量片状试样的热扩散率的激光闪光法推广至测量薄膜试样.应用15纳秒脉冲Nd:YAG激光及响应时间0.9微秒的(Hg,Cd)Te红......
在扫描电子显微观察的同时，用ＥＤＳ测量薄膜的厚度及其元素的深度分布［１，２］简便可行。薄膜厚度的测量例１．载玻片上的ＣｏＣｕ膜。对载玻片、Ｃｕ底膜和ＣｏＣｕ膜，用ＥＤＳ分......
为了实现对纳米级薄膜的快速测量，运用了基于分振幅斯托克斯参量测量的椭偏测厚的方法，对该方法中的原理、计算和参量测量方法进行研......
分析了椭偏测厚实验存在的困难,采用Authorware等工具软件,成功地设计和编制一套椭偏测厚实验的CAI仿真程序。使用表明,软件界面友......
分析了大学物理实验中传统的消光式椭偏仪实验存在的问题,提出以一种新型外差式椭偏测量系统取代.结合塞曼激光外差干涉和反射式椭......
介绍了用反射干涉频谱法测量透明或半透明薄膜表面平整度的方法,薄膜厚度的测量范围约在0.2～20 μm(小于20 μm)之间.在对二氧化硅......
根据剥离霍尔技术的物理基础，分析了范德堡测试结果中薄膜材料在逐层测量时Ｆ因子发生变化的可能原因，主要归因于被测样品存在导电层厚......
利用＾４Ｈｅ－Ｏ共振散射测量了ＳｉＯｘＮｙ功能梯度薄膜中氧元素的深化度分布。测试样品由计算机控制的等离子增强化学汽相溶积方法制备，所用的反应气体是......
介绍一种薄膜组织的图像分割算法,该算法包括中值滤波、形态滤波器等图像预处理技术,和基于离散动态边界模型(DDC)的图像分割方法......
结合激光外差干涉法和透射式椭偏测量原理,研究了一种快速、高精度测量纳米厚度薄膜光学参数的方法.给出了光学系统设计和理论分析......
本文报道了用可变入射角椭圆偏振仪(Variable angle incidence Spectroscopic Ellipsometer)测量Alq,NPB,CuPc,Rubrene薄膜的光学......
阐述了各向异性磁电阻效应测量原理，提出采用对称电流六探针来改善测量误差，以及八探针法测量多层膜巨磁阻效应。......
给出三波长光干涉测量纳米级薄膜厚度的方法。通过对某负压磁头／玻璃盘空气薄膜的测试表明：三波长光干涉法具有精度高、容易实施等优......
随着微纳制造技术的发展,微结构测试尤其是表面形貌测试、薄膜厚度测试已成为当前微纳米测量技术的重要方向之一。表面形貌是否符......
叙述了为提高数据传输可靠性,在接收精密仪器所采集的数据过程中考虑将原有RS232串口通信,改进为USB接口通讯。但是接收到的信号出......
本文比较了不同表面状态的薄膜和不同制备条件获得的薄膜的折射率和厚度椭圆偏振光法（以下简称椭偏光法）测量的结果，并分析了引起测量......
本文介绍了用ＰＣＳＡ光学系统测量双导复合膜折射率的理论，给出了对双层复合膜的实际测量结果。着重分析了双层膜折射率的测量结果中出现误......
基片在薄膜应力作用下产生宏观弯曲变形,使入射光线的入射角在基片不同位置产生偏差.根据空间两直线夹角公式,计算了入射光线在曲......
白光干涉光谱技术作为一种新兴的无损、高效、高精度的测量方法在微纳尺度的几何量测试等相关领域得到了愈来愈广泛的应用。白光干......
综述了深紫外光学薄膜技术在中科院长春光学精密机械与物理研究所的研究进展。为满足高性能深紫外光学系统对薄膜光学元件的需求,......
斯托克斯参量可全面描述光束的偏振态,分析了偏振光的斯托克斯参量的意义及其测量方法。通过测量纳米级薄膜样品的入射和反射偏振......
