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本文介绍了10/100Base-T以太网物理层系统芯片的设计和测试方法,给出了10/100Base-T以太网物理层芯片的流片结果.测试表明,整个系统的功能达到了设计要求.
10/100 Base-T以太网物理层的设计及测试
【摘 要】
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本文介绍了10/100Base-T以太网物理层系统芯片的设计和测试方法,给出了10/100Base-T以太网物理层芯片的流片结果.测试表明,整个系统的功能达到了设计要求.
【机 构】
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复旦大学材料科学系,上海,200433
【出 处】
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第十四届全国半导体集成电路、硅材料学术年会
【发表日期】
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2005年期
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