【摘 要】
：
LiNixMn2-xO4(x=0、0.01、0.03、0.05、0.1、0.3、0.5)和LiNi0.55Mn1.35V0.1O4粉末制备,作为锂离子电池的正极材料进行系统研究.X射线衍射(XRD)图谱和扫描电镜(SEM)图谱对其
【机 构】
：
微电子学院,上海交通大学,上海201203
【出 处】
：
2016年上海市研究生学术论坛——电子科学与技术
论文部分内容阅读
LiNixMn2-xO4(x=0、0.01、0.03、0.05、0.1、0.3、0.5)和LiNi0.55Mn1.35V0.1O4粉末制备,作为锂离子电池的正极材料进行系统研究.X射线衍射(XRD)图谱和扫描电镜(SEM)图谱对其进行表征,研究其形貌和结构.在室温下以0.5C的电流对其进行恒流充放电测试、倍率性能测试以及阻抗特性测试,将测试结果进行比较,分析导致相应结果的原因.对实验数据汇总处理并分析,结果表明:Ni的掺杂对于尖晶石LiMn2O4的电流0.5C下循环稳定性有较大提升,LiNixMn2-xO4(x=0.01、0.03、0.05、0.1、0.3、0.5)对应的百圈保持率分别为98.3％、96.1％、96.4％、88.0％、97.4％、98.16％,倍率性能则随着掺杂量的提升先升后降,以x=0.3的掺杂量最为适宜,在0.5C、1C、2C、4C、8C的电流下都表现出最好的倍率性能.超过x＞0.5的Ni掺杂量使尖晶石LiMn2O4的晶格结构出现混排,Ni2+占据了Li+的位置,使得结构稳定性下降,导致LiNi0.55Mn1.35V0.1O4的首圈放电比容量较低,只有115.6mAh·g-1,低于未掺杂的LiMn2O4的首圈放电比容量.另外LiNi0.55Mn1.35V0.1O4的倍率性能也较差,在8C的电流充放电下,容量几乎衰减为0.这说明Ni的掺杂量过高不利于尖晶石LiMn2O4的电化学性能的提升.
其他文献
This report presents a design method of high linearity Low Noise Amplifiers, i.e., the modified derivative superposition.The brief theory of the methods is
We put forward a green, bioactive, low cost diffractive optical elements (DOEs) using silk fibroin proteins.DOEs usually permit a reduction in the number of
在器件结构、辐照偏置相同的情况下,研究不同沟道长度的总剂量辐射响应.氧化层中辐射诱生陷阱正电荷是导致器件特性退化的关键.寄生侧壁晶体管会因浅沟槽隔离氧化层中的陷阱
Thermal atomic layer deposition (ALD) grown AlN passivation layer is applied on A1GaN/GaN-on-Si HEMT and the impacts on drive current and leakage current ar
由于单层石墨烯无本征禁带宽度,传统的石墨烯MOSFET的开关比非常小,且容易受基底散射影响导致载流子迁移率急剧下降,严重影响器件性能,本文主要研究运用量子隧道效应来制备新
The TFTs with atomic layer deposited ZnO-channe1/Al2O3-dielectric were fabricated under the maximum process temperature of 200 ℃.We compared the influences
本文提出了一种GaN HEMT器件寄生电容的提取方法——测试结构方法,该方法是在芯片上制作特殊的测试结构,测试结构和器件测试结构尺寸一致,只不过不包含有源器件而已,仅由栅极
针对嵌入式系统中多设备之间的通信需求,本文设计实现了抗干扰能力强、模块管脚少、控制方式简单的通信接口模块.主要内容包括:详细制定了模块采用的单线串行通信规则.详细介
A self-biased cascode Power Amplifier (PA) with Tunable Matching Network (TMN) in 0.18-μm SOI CMOS is presented.The TMN is employed to cover a wide range a
A parameter extraction method for small signal model of the PIN photodiodes, which combines the analytical method and empirical optimization procedure, is d