TaOx层厚度对于Ta/Pr0.7Ca0.3MnO3/Pt结构阻态翻转效应的影响

来源 :中国物理学会2012年秋季学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户：simetl1235

【摘要】

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Pr0.7Ca0.3MnO3(PCMO)是最早用于电致电阻效应研究的材料之一.本文对Ta/ PCMO /Pt多层界面结构中Ta层的不同厚度对其整体电致电阻效应的影响进行了研究,利用高分辨透射电子显

【作者】

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刘紫玉赵宏武孟庆宇张培健孟洋田焕芳李建奇潘新宇梁学锦陈东敏

【机构】

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北京市海淀区中关村南三街8号D楼415,100190

【出处】

：

中国物理学会2012年秋季学术会议

【发表日期】

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2012年期

【关键词】

：

层厚度界面结构电阻效应高分辨透射电子显微镜电子能量损失谱效应研究 HRTEM 氧化

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Pr0.7Ca0.3MnO3(PCMO)是最早用于电致电阻效应研究的材料之一.本文对Ta/ PCMO /Pt多层界面结构中Ta层的不同厚度对其整体电致电阻效应的影响进行了研究,利用高分辨透射电子显微镜(HRTEM)和电子能量损失谱(EELS)对其结构和组分进行分析,发现Ta层被氧化而界面结构中形成了一层TaOx非晶成分,并且该层厚度在Ta层较薄时随Ta层厚度增大而增大,直至Ta层较厚后不再变化.

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