扫描力显微镜相关论文
扫描力显微镜(Scanning Force Microscopy, SFM)已经发展成为研究铁电薄膜材料电畴结构、电畴特性及其电性能的关键工具和方法。在......
本论文采用压电响应扫描力显微镜(Piezoresponse-SFM,PFM)研究纳米尺度下铁电薄膜和纳米岛的电畴结构及其运动规律。研究内容包括P......
铁电薄膜由于其特有的极化效应已在多个领域得到广泛应用,因此有必要深入研究铁电薄膜的表面及界面纳米尺度的基础特性。本论文利......
铁电体是一类重要的功能材料,电畴是其物理基础.综述了利用原子力显微镜(AFM)、压电力显微镜(PFM)、扫描非线性介电显微镜(SNDM)表......
用Sol-Gel法制备出了具有良好铁电性、纯钙钛矿结构的PbTiO3/Pb(Zr0.3Ti0.7)O3/PbTiO3铁电薄膜.在扫描力显微镜的压电响应模式下,......
综述了近年来用扫描隧道显微镜 (STM )和扫描力显微镜 (SFM)在原子水平上观测辐射损伤潜径迹的研究及进展。详述了辐射损伤潜径迹......
根据扫描力显微镜的特点,对小波变换应用于扫描力显微镜图像的降噪、增强及融合方法进行了阐述.采用SFM对碳元素沉积到基底上,通过......
应用扫描力显微镜(SFM)的压电响应模式观测未经抛光处理的PZT陶瓷片的电畴结构,用纵向压电响应信号和侧向压电响应信号获得PZT陶瓷......
铁电薄膜是一类重要的功能材料,铁电畴是其物理基础.综述了铁电薄膜中电畴的表征方法(高分辨透射电镜、扫描力显微镜、X射线衍射、......
该文叙述了利用扫描力显微境测员表面静电势的工作原理:并给出了不同类型扫描静电势显数镜的框图,以及利用它得到的一些实验结果.......
以迈克耳孙干涉仪作为基本操作平台建立了扫描力显微镜／扫描近场光学显微镜（SFM／SNOM）实验系统．该系统可以用于扫描力显微镜和近场光学......
扫描力显微镜(SFM)作为一种新型的超分辨率近场扫描探针显微仪器正日益受到各学科领域的高度重视.在铁电材料领域,SFM是开展纳米尺......
目前在扫描力显微镜中经常用到的氮化硅三角形探针本身可以作为一个基于点微射干涉的微干涉元件。本文讨论了一种根据这一原理设计......
介绍扫描静电力显微测量及用其实现电荷捕获释放的技术现状、发展动向 ,以及关键技术的一些最新成果。前者已被广泛应用于测量半导......
铁电畴的结构及其运动规律直接决定了铁电体的物理性质及其应用方向，电畴的检测是进行铁电特性研究的前提条件。现有的铁电畴检测手......
