静电力显微镜相关论文
静电力显微镜（Electrostatic Force Microscope）是一种非损伤性的探测半导体静电力分布的新兴技术。随着该技术的不断完善，静电力显微......
1．用磁控溅射系统，共溅射Si和SiO再退火来制备纳米硅晶体。拉曼(Raman)光谱和透射电子显微镜(TEM)照片证实了纳米硅晶体的存在。又研......
为进一步研究工业中对聚酰亚胺取向膜基板进行摩擦取向处理时,在取向膜上产生静电残留,影响液晶分子取向的均匀性的问题,文章利用D......
利用静电力显微镜(electrostatic force microscope,EFM)在微纳米尺度下对聚酰亚胺薄膜表面的电荷起因及特性进行研究.采用Dimensi......
针对主体为圆锥、尖端为球冠的扫描探针物理模型,基于针尖与导体平面间电场分布假设,提出计算扫描探针针尖与导体平面间的静电力解......
描述了一种用于检测样品表面电荷分布的静电力显微镜(EFM).利用谐振频率为32.768 kHz的未封装微石英晶振作为微力传感器,它在逼近......
在一台基于微晶振的原子力显微镜的基础上,通过在针式传感器前端细小针尖加入可调交流偏压,获得高分辨率动态非接触静电力显微镜.......
针对主体为圆锥、尖端为球冠的扫描探针针尖物理模型,提出了针尖与试样之间等效电场分布假设,基于该假设导出了二者之间静电力的解......
使用接触角、原子力显微镜（AFM）、静电力显微镜（EFM）和傅里叶变换红外（FTIR）光谱对辛基三乙氧基硅烷（C8TES）／十八烷基三氯硅烷（OTS）均相混合自......
为进一步研究聚合物电介质材料聚酰亚胺表面电荷的生成规律和特性，利用Dimension3100型扫描探针显微镜在微纳米尺度下对聚酰亚胺表......
利用扫描探针显微镜（SPM）的导电探针在PMMA薄膜表面μm／nm尺度下通过摩擦方式产生了电荷，并用静电力显微镜（EFM）对生成的电荷进行了观察......
我国高压直流输电技术的发展对电介质材料的绝缘性能提出了更高的要求,聚合物纳米电介质材料以其优异的性能而受到广泛的关注,其中......
介绍扫描静电力显微测量及用其实现电荷捕获释放的技术现状、发展动向 ,以及关键技术的一些最新成果。前者已被广泛应用于测量半导......
静电力作为微机电系统(MEMS)中一种重要的驱动力,广泛应用于微镜、微泵、微马达、微陀螺、微钳、微谐振器、射频开关等微器件中。......
分子自组装(molecular self-assembly)是指经过分子设计涉及多个能量尺度和自由度的基本分子自发地形成具有复杂层次的结构。分子......
微机电系统是集微型传感器、信号处理器、执行器以及控制和接口电路、通信和电源于一体的微型系统。它涉及微电子、机械制造、材料......
