可测试性设计相关论文
机载计算机数字模块主要指CPU模块、IOC模块、DIO模块等数字信号处理模块,为了满足其高可测试性要求,所有模块都必须考虑BIT设计和......
IC设计是指从电路构想到芯片产出的完整流程,根据流程中每个步骤分担的不同责任大致划分成前端的硬件逻辑实现和后端的版图物理实......
随着集成电路工艺尺寸不断的缩小和产业化进程的加快,对芯片的测试要求也越来越高,可测试性设计（Design for Test,DFT）已成为芯片设......
随着集成电路的生产工艺不断进步,显示驱动芯片得以飞速发展。显示驱动芯片规模不断扩大,承担了更多的功能。显示驱动芯片结构复杂......
在过去二十年中，为了满足人们日益增长的对多媒体的需求，媒体处理器得到了飞速发展，出现了各种各样的媒体处理器。根据其体系结构，媒体......
该课题是对"八五"期间研制的受控器设计和测试系统进行改进,使之具有更强的实用性.论文中在研究边界扫描测试标准对体系结构中受控......
直接存储器访问控制器(Direct Memory Access,缩写为DMA)是计算机体系结构中的重要组成部分.智能化和通道化是DMA发展的趋势,链式......
该文内容即为研究一种混合信号电路的可测试性设计方法.该论文基于两个JTAG边界扫描测试体系标准,并将数字电路JTAG体系标准IEE114......
随着半导体的工艺尺寸不断缩小、电路设计的规模越来越大,计算机系统的核心部件——处理器,尤其是高性能通用处理器,正面临着高可......
基于边界扫描测试技术的故障诊断突破了传统的管脚接触式检测理论和手段,可以解决其他技术无法完成的超大规模集成电路的测试问题,......
随着社会对更小更纤薄电子产品的追求及半导体工艺技术的发展,当代So C芯片也在朝着尺寸更小、功能更多的方向发展,IC设计公司为降......
可测试性设计(DFT)正在成为复杂电子设备的基本属性,讨论了基本模式化的可测试性设计方法,并给出了设计实例.......
本文对几种可行的可测试性设计技术进行了分析,并对可测试性设计的支持环境进行了简要描述。据出了可测试性设计是新一代电子产品......
随着集成电路制造技术的快速发展，系统芯片SOC(System on Chip)正逐渐变成现实，它采用基于IP(Intellectual Property)的设计方法，在单......
随着人们对信息安全的重视,以及移动支付、智能家居、可穿戴设备等应用场景的兴起,用于身份验证和信息加密的加密芯片在电子设备中......
三态内容可寻址存储器(TCAM)是在普通二态内容可寻址存储器(BCAM)的基础上发展而来的,它的本质仍然是一种硬件搜索引擎。它具有比......
学位
本文通过对航空装备三级检测需求进行分析,得出各级需求对应的可测试性设计解决方案,可有效提高装备测试覆盖率,为今后提高可测试......
随着数字信号处理器(DSP)性能的增强,设计师能够运用DSP的范围同样扩大了.与此同时,DSP应用代码的复杂性也增加了.为了开发出基于D......
集成电路技术在近 10年里有了飞速的发展 ,加工工艺从 0 .5μm ,0 .6μm亚微米级工艺发展到 0 .2 5μm ,0 .18μm甚至 0 .1μm的深......
本文介绍了边界扫描技术的工作原理,论述了基于边界扫描技术的电路板可测性设计在信号链路以及信号接口方面需要重点考虑的一些问......
本文通过对国内外数字电路板自动测试技术的介绍与比较,分析总结了适合我国对空情报雷达数字电路板的自动测试手段,并提出了可测试......
FCT6芯片是一个集成了 Intel80 31微处理器及一些外围电路的嵌入式微控制器 ,它的集成度和复杂度高 ,又有嵌入式 RAM部件 ,而且芯......
奇佳辨识一词始见于北京装甲兵学院 2 0 0 0’测试论文集内 ,后复旦大学中葡固态电路论文集中考虑到模拟可测试性设计必需有关器件......
高清晰度电视（HDTV）信道接收芯片（8VSB）的测试策略主要包括全速全扫描的内部测试，片载内存的自检测（BIST）以及IEEE1149．1边界扫描测试，该芯......
本文论述了边界扫描技术的基本原理和边界扫描在电路板测试及在FPGA、DSP器件中的应用.介绍了为提高电路板的可测试性而采用边界扫......
针对电路测试点优化问题,研究了相关性模型和信息熵理论,在对相关性模型进行改进的基础上,建立了基于信息熵的电路测点优化策略,给......
文章以Verilog硬件描述语言描述的电路为研究对象,给出RTL级集成电路的静态时序深度和动态时序深度概念.从静态、动态两方面出发度......
提出了一套采用片内PLL时钟，实现在速扫描测试电路故障的方法，包括设计思路，设计实现方法，电路的结构和测试向量的产生，以及仿真验证这......
提出了一种两级扫描测试结构：根据电路结构信息对时序单元进行分组,同组的时序单元在测试生成电路中共享同一个伪输入;将时序单元划......
仿真模型的有效性评估一直是建模与仿真领域研究的重要课题。在工程大系统的仿真模型集成过程中,由于传统仿真模型的验证方法受到......
随着故障诊断技术的发展,利用专业的仿真工具对实际电路进行可测试性分析仿真用的越来越普遍。LASAR（逻辑自动激励与响应）就是一套优......
针对地空导弹武器系统检测维修困难的现状，利用可测性设计技术，提出了地空导弹武器系统可测性设计的方法。阐述了地空导弹武器中测试......
针对模拟电压监测的技术现状,提出以支持IEEE1149.1接口标准的模拟电压监测器进行电压监测电路设计;简要介绍了模拟电压监测器的基......
针对用户专用键盘故障排查过程中的低效率问题,文中采用边界扫描法、内建自测试法等对其进行测试性设计改进,使得利用已有的边界扫......
由于安全性好,存储容量大等方面的优点,金融IC卡代替传统的磁条卡已经成为一种必然趋势;由于电路的复杂性,在金融卡的设计过程中必......
ASIC、IC和SoC正面临高复杂度、高速、高可靠性、高质量、低成本以及更短的产品上市周期等日益严峻的挑战。与此同时，复杂芯片设计......
从系统测试性设计的角度，分析了国内外测试性设计技术的发展状况、存在的问题；讨论了开展系统测试性设计并制定测试性工作规范在飞行......
针对在FPGA芯片中的应用特点,设计了一种边界扫描电路,应用于自行设计的FPGA新结构之中.该电路侧重于电路板级测试功能的实现,兼顾......
本文简要介绍了DFX系列规范的构成，来源及应用状况，重点论述了DFM的规则，实施要点，并提出查检表。......
在系统芯片可测试性设计中考虑功耗优化问题是当前国际上新出现的研究领域.在可测试性设计中考虑功耗的主要原因是数字电路在测试......
边界扫描测试技术很好地解决了VLSI电路诊断、测试的困难问题,得到了广泛的应用.作者在查阅大量文献资料的基础上,总结出了边界扫......
介绍了VL81芯片的测试技术及故障模型，针对一款数字电视接收系统解调芯片，从设计中不同的阶段分析了集成电路的可测试性设计及其优化......
内建自测试（BIST）为嵌入式存储器提供了一种有效的测试方法.详细介绍了存储器故障类型及内建自测试常用的March算法和ROM算法.在一款......
提出了基于小生境遗传算法的系统级芯片（SoC）测试存取机制（TAM）的优化方法．结合TAM宽度约束进行SoC中功能内核（IP）的测试壳的优化，解决测试......
三维堆叠集成电路（3D-SIC）主要采用过硅通孔（through silicon via,TSV）技术来实现电路在垂直方向上的互连,但TSV在制造过程或绑定后阶......
可测性设计DFT技术已成为IC设计中的一个重要技术.对于不同复杂程度及规模的IC,应选择不同策略的测试方案以达到设计成本和周期的......
