电学法相关论文
碳化硅（SiC）器件具有禁带宽度宽、击穿电场高和热导率好等优点,尤其适用于高温、高压和大功率等工况。近年来,随着新能源汽车、航天......
临界热流密度是核反应堆安全运行中的重要参数,由于临界热流密度既受到流动参数的影响,又受到沸腾传热过程中多种潜在的相互作用的......
GaN器件为高电子迁移率晶体管（HEMT）器件,它有AlGaN和GaN基器件,以其优异的电子迁移率、禁带宽度、高频、高温、大功率等特性,备受关......
从振动的基本理论出发,应用矩阵光学理论,推导了光学图像法测试光束指向稳定性的原理。设计了光电法测试光束指向稳定性的测试应用......
采用快速脉冲技术,研制了GaAs MESFET热特性测试仪,并测量、分析了GaAs MESFET冷响应曲线、温升、稳态热阻、瞬态热阻及热响应曲线......
论文分析了电学法热阻测试仪的工作原理及测量过程，明确了测量过程中各个电、热参数对热阻测试结果的作用和意义。由热阻的基本定义......
采用快速脉冲技术，研制了ＧａＡｓＭＥＳＦＥＴ热特性测试仪，并测量、分析了ＧａＡｓＭＥＳＦＥＴ冷响应曲线、温升、稳态热阻、瞬态热阻及热响应曲线。采用该方法，可在器件正常......
对GaAs基808 nm半导体激光器进行恒流老化试验,并利用电学法观察退化过程中激光器有源区温度变化和热阻,发现有源区温度随老化时间......
半导体器件电学法结温测试过程中,校温过程同测温过程的热分布状态存在差异,导致串联电阻阻值不一致,是影响脉冲电流方法结温测试......
为了有效实现对微波功率器件的热特性分析，在瞬态红外设备基础上开发了一套用于获取微波功率器件降温曲线的测量系统。分析了瞬态红......
对目前国外几种垃圾填埋场防渗层渗漏检测方法 (地下水检测法 ,扩散管法 ,电容传感法 ,追踪剂法 ,电化学感应电缆法 ,电学法 )进行......
热阻值是衡量功率VDMOS器件热性能优劣的重要参数,但在实际的热阻测试过程中,诸如测试电流、延迟时间、壳温控制等因素都会对测试......
与场效应管不同，MMIC功放由于集成了电阻、电容等电子元器件，其热特性的电学法测量非常困难。文中研究并设计了相应的测量方法和装置......
本文以振动的基本理论为基础,利用矩阵光学理论,总结了光学图像法测试光束指向稳定性的定理。通过进行实验光路的测试以及光电法测......
对目前国外几种垃圾填埋场防渗漏检测方法:地下水检测法、扩散管法、电容传感法、追踪剂法、电化学感应电缆法及电学法,进行了详细......
为了准确测量和评估功率器件的热特性,综合介绍功率器件的结温和热阻测试相关的方法和技术标准。分析了早期的JESD51-1标准中结-壳......
本文介绍了用标准芯片法测量半导体器件的封装热阻的测试原理及测量装置,并对该测量系统的重复性及误差进行了讨论。通过对半导体P......
为了解决国内绝缘栅双极型晶体管(IGBT)生产和使用中热阻测试问题,采用电学法的测量原理并与嵌入式技术相结合的方式,设计了一种以......
期刊
针对功率循环实验中绝缘栅双极型晶体管（insulated gate bipolar transistor,IGBT）温度过冲和滞后问题,设计了一种自校准PID算法控制......
运用电学测试法,以TO-39和TO-254两款不同封装类型功率VDMOS为实验对象,深入研究了耗散功率和环境温度对器件稳态热阻值的影响。结......
随着节能技术的发展,LED作为一种半导体照明技术,得到研究者的关注。以此为背景,针对LED灯工作过程中产生大量热量的散热技术开展......
绝缘栅双极晶体管(IGBT)工作时会产生大量的热,这不仅会影响到其工作的可靠性,还会对其周围的电路产生影响,降低整个系统的性能。......
热阻是功率器件一个重要的热性能参数,影响着结温的高低,同时也用于确定器件结温以及功率器件的安全工作温度范围。每只器件热阻值......
对功率VDMOS源漏间寄生PN结正向结电压VDS随温度变化的特性进行了测量,发现VDS与结温T存在良好的线性关系,通过理论推导进行了分析......
本文简述了半导体器件的温度测量方法，重点介绍了适用于氮化镓（GaN）基高电子迁移率晶体管（HEMTs）器件的四种热测试技术及其在GaN基HEMTs......
