结温测量相关论文
逆导型IGBT（RC-IGBT）是一种新型的IGBT器件，它在IGBT芯片结构中集成了一个快恢复二极管（FRD），使得其具有成本低、封装工艺简单、功率密度......
碳化硅（SiC）器件具有禁带宽度宽、击穿电场高和热导率好等优点,尤其适用于高温、高压和大功率等工况。近年来,随着新能源汽车、航天......
小电流下饱和压降法（Vce法）和阈值电压法（Vth法）是IGBT热阻测试标准中推荐使用的两种结温测量方法，然而并没有说明两种方法测得的结温的......
结温测量是功率半导体器件热表征、可靠性研究、状态监测以及健康管理的重要基础,其中温敏电参数法响应快速且无需破坏封装,十分适......
设计了一种采用双光谱参数表征GaN基蓝色LED结温的新方法。采用光谱仪(OSA)测量不同环境温度、不同脉冲电流驱动下,GaN基蓝色LED的......
随着电力电子器件制造工艺的不断改进和变流技术的逐渐完善,绝缘栅双极晶体管(Insulated Gate Bipolar Transistor,IGBT)作为功率......
随着功率半导体器件的不断发展与电子电力技术的进步,其可靠性一直是电子科学与技术领域关注的重点。功率循环试验是利用科学假设......
LED由于其体积小,光效高,寿命长等优点,在照明、显示领域得到了广泛的应用。随着LED大电流密度芯片技术的进步,大功率LED的光效、......
热阻测试仪已成为大功率LED不可或缺的检测设备之一，随着大功率LED在照明领域的应用和普及，对热阻测试仪的需求也不断增加，研制开发准......
半导体器件电学法结温测试过程中,校温过程同测温过程的热分布状态存在差异,导致串联电阻阻值不一致,是影响脉冲电流方法结温测试......
基于光谱分布特征参数,设计了一种新型GaN 基白光LED 结温测量方法.该方法未考虑瞬时脉冲电流热效应,通过测量不同环境温度和瞬时......
分析了LED结温精密测量中测量电流、加热电流、加热时间等三项测量因素的变化对所测结温的影响。实验采用小电流K系数法测试结温。......
可见光通信中LED模组结温影响其光、色、电特性及工作寿命，对模组结温的测量及管理十分重要。因LED模组管脚存在无法接触测量的缺点......
介绍了利用发光峰位法来研制LED灯具结温测试仪的方法.阐述了仪器的测量原理、系统构成、工作方法、数据处理等关键问题.这种非接......
用ΔVBE法测得的结温是器件有源区某一点的温度，流经该点的测试电流密度等于流经整个芯片的平均测试电流密度。测量结温随测试电流......
本文在分析LED结温测试方法的基础上,以计算机、恒温台、脉冲电流源、myDAQ数据采集装置为硬件,以LabVIEW为软件开发平台设计了LED......
结温是影响LED性能的重要参数,快速、准确地测量LED结温对LED产品设计、性能检测具有重要的意义。在不同驱动电流下,测量了GaN基白......
伴随着时代的发展,绝缘栅双极型晶体管(Insulated Gate Bipolar Transistor,IGBT)作为新一代大功率开关器件,在众多领域占据着重要......
概述了功率晶体管结温测量的意义及常用的双极晶体管模型。常用的结温测量方法有两种：红外扫描法和热敏参数法。由于热敏参数法只能......
结温是IGBT器件的重要状态变量,可在变流器运行过程中通过监测温敏电参数d V/dt获得相关信息。然而实际系统中除温度与电流外,其他......
采用正向电压法测量不同衬底温度、不同电流驱动时,双荧光粉转换型白色LED的结温,同时采用光谱仪测量归一化光谱分布.选择芯片的蓝......
本文以LED为研究对象,以电学测量法测试LED芯片结温,分析加热电流对结温的影响。初步探讨采用红外热成像技术分析LED温度进而推算L......
SiC MOSFET凭借其优异的电热特性,正逐渐投入市场,长期运行其可靠性成为关注的重点,功率循环试验是考核器件可靠性最重要的老化试......
针对传统热网络模型不适用于IGBT短路情况下结温测量的问题,通过现场瞬态短路破坏性试验,在分析现场瞬态短路情况下IGBT失效机理的......
电力电子系统具有很高的能量转换效率和可控性,已广泛应用于航空航天、工业自动化、交通运输、可再生能源发电等领域。由于工况复......
在能源危机日益严重的今天，风能作为一种清洁可再生能源正受到越来越大的关注，风力发电对于解决当下的能源危机来说至关重要，以绝缘栅......
结温是影响功率变流装置可靠性的关键参数之一，研究功率变流装置中功率器件的结温测量方法是确保功率变流装置安全可靠运行和降低维......
