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微控制器具有体积小、质量轻、功耗低以及使用方便等特点，被广泛应用于嵌入式电路设计中。在电路中，微控制器能否正常工作，将直接影响......
随着科学技术的快速发展，经济社会已进入大数据时代，集成电路都朝着高速高精度方向发展，进而对保障电路质量的电路测试的速度和精度也......
随着技术的发展，新装备中大规模集成电路的应用越来越广泛，边界扫描测试（JTAG测试）的功能逐渐强大和完善，已成为国际上通用的电路板测试......
机载计算机数字模块主要指CPU模块、IOC模块、DIO模块等数字信号处理模块,为了满足其高可测试性要求,所有模块都必须考虑BIT设计和......
介绍了一款USB功率传输(Power Delivery,PD)快充协议芯片的晶圆测试方法.基于Chroma 3380P测试系统,通过对USB PD快充协议芯片测试......
全球半导体产业发展的几十年中,芯片的测试成本一直占据芯片总成本中的很大比例。芯片测试成本主要是时间成本,如何有效地减少测试......
针对手动测试设备耗时费力、易出错的缺点,本文提出了一种自动检测设备研制方案,基于ATE通用测试平台,选用合适的硬件板卡,编写测......
阐述在使用自动测试系统(ATE)对部分数字电路进行输出带载能力测试时,因外部阻抗变化引起输出测量结果存在偏差的问题,介绍了一种......
随着CAN总线的广泛应用,其总线控制器芯片的测试尤为重要.文章简要介绍了CAN总线控制器芯片的工作原理,提出了一种基于ATE测试机对......
针对反熔丝FPGA端口测试复杂度高和稳定性差的问题,提出了一种基于ATE的反熔丝FPGA的端口测试方法,该方法仅使用一段特殊编程的测......
随着可编程逻辑器件CPLD电路的不断发展,其测试也变得格外重要.该文提出了一种基于ATE的CPLD测试方法,包括配置码的生成和基于V930......
随着信息化时代的发展,全球对数据存储的需求越来越多,NAND FLASH作为一款大容量存储器也被广泛应用到各种储存设备中,其测试评价......
期刊
千兆以太网收发器芯片是一款典型的高速数字类接口芯片,其数据速率支持10/100 Mbps,最高支持1000 Mbps的数据传输.该文对该芯片的......
期刊
This morning I picked golden plums straight from the trees in my back garden. A guilty pleasure; I didn’t plant the tre......
本文基于MBAV8+的测试方法,在实际应用中容易受到测试环境影响,造成增益值测试结果存在异常现象的问题,为此,开展基于ATE的芯片射......
本文简要介绍了空军装备维修综合诊断技术中机内测试、机载状况监控系统、便携式维修辅助器和自动测试设备等技术的新进展.......
Translational,vibrational,rotational enhancements and alignments of reactions H + ClF(v = 0-5,j= 0,3
Quasi-classical trajectory calculations of the title reactions H + ClF(v = 0 5,j= 0,3,6,9) →HCl + F and HF + Cl,at E_(r......
集成电路测试仪是复杂的电子系统,因而购买及使用它们都是一种挑战。然而你不必单独应对这种挑战。好的ATE供应商会向你提供售前......
ATE(Automatic Test Equipment—自动化测试设备)是解决现代日益复杂的军用电子维修的有效手段之一。一些先进的国家应用ATE,建立......
在宽带已调制信号上进行一流射频测量的这种新技术,解决了对下一代无线通信产品成本的主要难题。
This new technology for best-......
在IC设计周期内尽早发现问题,对于保证项目在预算内按时完成是至关重要的。大多数设计公司目前的通用方法是利用分立仪器,如示波器......
本文根据逐次逼近(SAR)型模数转换器(ADC)结构和工作原理,研究了其非线性误差参数修调算法.基于ADVANTEST V93000型自动测试设备(A......
软件测试作为软件生命周期中不可缺少的组成部分对提高软件质量起着重要作用。本文针对通讯产品的测试需求,在对移动通信系统的特......
近年来,随着Web技术的不断发展,怎样从Web产生的海量数据中发现隐含的规律性内容,充分利用有用的数据成了现今研究的热点。而Inter......
近年来,芯片产业发展迅速。在芯片生产的过程中,芯片质量测试是半导体集成电路制造过程中的极其重要的一道工序。芯片测试厂商为了......
雷达作为现代战争中最为关键的装备之一,已大量装备到各类部队。随着科技的发展,雷达系统的功能及性能越来越强大,造价昂贵,结构上......
DSP功能高覆盖率的测试是一个比较难的课题。本文以自主研发CATT-400大规模集成电路测试系统为测试平台,提出一种基于ATE (Automat......
随着我国集成电路行业及半导体相关产业的快速发展,对半导体集成电路性能及功能的完备测试是实现各类芯片成功量产的保障。其中,模......
ＴＡＥ的名字，于我们是那样的陌生：ＴＡＥ的 国度，离我们却并不遥远。其实，在他之 前已经有不少华裔外籍艺人来到台港两地发展，陈洁仪、许美静、两个......
讨论了汽车电子系统中有关电子发动机控制、刹车防锁制动系统和安全气囊的测试。
Discusses automotive electronics systems rel......
Plug-and-play(一插即用)结构并不是针对PC的。为了VXI模块化仪器总线,测试行业正在P&P结构方面努力不懈。一旦销售商能够提供VXI ......
研究了测试开发系统（ＴｅＤＳ）中ＣＡＤ逻辑模拟验证结果向ＡＴＥ的移植问题，提出并采用了元测试语言的策略。把ＰＡＮＤＡ工作站的模拟验证结果转换成元测试语言的图......
目前Lattice提供一种使用自动测试设备(ATE)对Lattice ISP器件进行编程的简便方法。Lattice ispTEST应用软件能以HP-PCF、Teradyn......
阅读教学作为大学英语教学的重要组成部分,其教学效果直接影响着学生的阅读水平,已经成为新时期人们关注的焦点。本文主要从AET阅......
大多数工程师在电源的生产或验证测试中使用自动测试系统,但越来越多的公司正发现ATE对于产品设计的验证测试(DVT)也同样有效。 ......
非线性是影响射频电路一个非常重要的因素,随着无线通信技术的发展,对非线性性能的测试显得越来越重要.ATE可同时提供数字、模拟和......
微控制器和存储器测试是集成电路中的难点和重点，AT89C2051则集成了MC-51TM处理器和2Kbyte可编程Flash存储器两大类电路。研究该电......
针对集成电路测试成本的迅速提高，提出一种低成本芯片验证的方法。对于DIB采用母子板架构，它具有低成本，高效率的优点。然后基于V9300......
FPGA市场已经进入极速发展时代，不同的销售商已向市场投入更多更快的FPGA器件。本文重点介绍了动态重构FPGA及其基本结构、特点；在此......
介绍了航空电子设备总体测试需求，提出综合测试系统硬件、软件构架，结合实际ATE平台分析了测试模式和常用功能，并对被测设备研制提出......
近年来提出和迅速发展的VXI总线,为虚拟仪器概念的发展和实现提供了一个比较理想的环境,代表着自动测试领域的发展方向.该文简要分......
该文论述了一种可用于混合信号 I C测试的自动测试系统的设计,该系统以1997 年刚公布的 P X I总线为主总线,同时提供多种工业测试......
为了恰当地测试WiMAX收发器件,射频半导体测试仪需要准确迅速地执行测试,并且帮助完成器件特征描述。事实证明,WiMAX收发器件有益......
本文从自动测试系统的发展过程,分析了第三代自动测试系统的结构模式,提出了建立在IBM-PC总线基础上的新型实用结构模式,且利用这......
NI公司结合自身机载附件的修理需要,运用国际先进测控技术和相关产品,在ATE测试设备开发方面做了一些有益的尝试,希望在经济、实用......
