大口径光学元件相关论文
为解决大口径光学元件表面疵病检测设备的精确测量、校准和溯源问题。设计了用于标定表面疵病检测系统的标准板，通过电子束曝光将定......
为有效检测光学元件体内的缺陷情况, 利用全内反射技术, 让激光束在光学元件内部多次全内反射后获得缺陷的散射光斑图像, 结合基于......
图像拼接是大口径光学元件表面疵病检测的关键环节之一。通过分析各种图像拼接的方法, 结合大口径光学元件表面疵病检测的需要, 采......
现代激光技术的快速发展,对光学元件的性能提出了越来越高的要求。尤其是在高功率、高能激光系统中,直径大于100毫米的大尺寸光学......
惯性约束聚变高功率固体激光装置研制对大口径光学元件提出了全频段精度控制指标要求,以及高效率、批量化制造需求.本文围绕“超精......
随着光学元件口径的增大,光学系统对精度的要求提高,传统干涉仪检测手段已经不再满足要求。为了提高制造效率,需要适当的在线检测......
为实现在高功率激光装置中对平面反射镜反射率的高精度测量,提出了将双光束分光光度法与VW测量法相结合,利用扩束后的测量光束测量......
与传统光学加工方法相比，磁流变抛光具有确定性好、不产生亚表面破坏层、加工过程零磨损等优点，被越来越多的应用于高精度光学加工中......
温度瞬变是影响惯性约束聚变(ICF)驱动器中大口径光学元件结构稳定性的一个重要的激励因素.采用多通道高精度温度监测仪对原型装置......
多模式组合抛光大口径光学元件是提高加工效率和加工精度的有效方法。作为加工系统的重要组成部分,抛光机械手的设计是实现多模式......
为了解决大口径光学元件检测过程中成本高、空间分辨率低这两个主要难点,提出了使用小口径、高精度干涉仪分次检测大口径元件,然后......
为了满足国内ICF系统大口径光学元件的检测需要,提出了子孔径拼接干涉检测的方法.该方法是利用小口径干涉仪对大口径光学元件进行......
针对大口径光学元件精密检测平台空间误差难以直接测量的问题,提出了一种空间误差计算方法.首先,将空间误差分解为平面内两轴联动......
大口径光学元件中频波前的准确评价已成为高功率激光系统中关注的焦点，元件中频波前均方根值是重要评价指标之一。根据波前中频检测......
研究了针对600mm口径方形轻质碳化硅元件的数控抛光工艺过程，采用国产OP1000数控研磨抛光机床对一块600mm×480mm的方形碳化硅......
使用PSD作为大口径光学元件的质量评价标准，为保证检测系统的精度，标定了作为测试系统的大口径相移干涉仪的系统传递函数，并讨论了在......
针对ICF系统要求,提出了一种基于统计理论的大口径光学元件功率谱密度测量方法。该方法将大口径波前划分成足够多个子区域,分别求......
针对惯性约束聚变（ICF）驱动装置中口径为400mm×400mill薄型频率转换KDP晶体在45。放置状态下产生的附加面形问题，采用有限元分析......
针对测量高功率激光驱动装置中大口径矩形反射光学元件的波前误差时测量角度和使用角度不完全相同引入的测量误差,提出了将测量角......
针对大口径光学元件溅射沉积膜厚不均匀的问题,采用离子束溅射平坦化层来改善光学元件表面粗糙度.利用膜厚检测仪测出光学元件沉积......
以大口径光学元件精密与超精密磨削为监控对象,搭建磨削机床智能监测系统,探索智能磨削监控共性技术。监测系统以NI–PXI 为主要运......
针对半球面大口径球形光学元件的膜层均匀性进行了理论分析研究。通过建立半球形基底内表面的数学模型,运用膜厚理论公式表达出内......
研究了2．2m高真空箱式镀膜机镀膜时的实际膜厚分布情况。对非球面和平面光学元件，分别采用行星夹具和平面公转夹具并利用修正板调节......
为了实现大口径光学元件的安全装夹、转运,通过光学元件开槽与不开槽两种装夹方式的分析,得出开槽夹紧转运方式将带来微裂纹、应力......
讨论了靶场光学元件在环境热载荷作用下的变形分析理论和数学描述,采用有限元分析软件ANSYS建立了靶场反射镜的模型,用靶场实测环......
通过分析影响高功率固体激光装置中大口径光学元件稳定性的热激励源及其作用过程,指出日照瞬态温度、室内HAVC(A ir Cond itioning......
以实现高精度、高效率、高自动化程度加工为目的,基于高精度平面磨床MGK7160的加工系统,详细分析了加工规划控制、计算机辅助制造......
激光技术的不断发展对光学元件的性能提出了越来越高的要求。尤其在高功率激光系统中,光学元件的吸收损耗是限制其进一步发展的一......
“神光”-Ⅲ装置对所使用的光学元件不仅提出了大口径的要求（200mm以上），而且对于光学元件表面波前空间频率上中高频段的小尺度的制造......
为了实现大口径光学元件的子孔径拼接干涉测量，提出了采用立体视觉进行光学元件位姿测量的方法，建立了基于双目视觉的子孔径拼接测量......
为满足大口径光学元件多模式组合加工技术(MCM)的需要,研制了JP-01型数控抛光机械手。该机械手采用柱坐标结构,ρ-θ极坐标运动方......
为了满足大口径非球面光学元件加工的需求,提出了用多模式组合加工（MCM）技术修正大口径非球面反射镜环带误差的方法。本文讨论的MCM......
针对大口径光学元件的超精密加工需求,在自主开发的MK7160和2MK1760两台平面磨床的研制基础上,进一步研发了高精度平面磨床UPG80。......
为了解决大口径光学元件面形高精度测量问题,建立了拼接测量系统,通过测量得到整体表面面形。在拼接测量过程中,需要将待测面形进......
大口径光学元件超精密加工是一个复杂的系统性工程,涉及精密机床、数控、加工技术与工艺、精密检测和补偿控制等机电控各领域的专......
为了检测光学元件面形精度和波前功率谱密度,研制开发了一套具备透射和反射检测功能的检测调整工装。该调整工装把光学元件及其旋......
为了提高大口径光学元件面形拼接检测准确度,减少传统子孔径拼接算法带来的误差传递和积累,并在原有全局优化拼接算法的基础上引入......
ICF驱动系统大口径光学元件加工质量的检测和评价工作是保证整个系统安全、正常、高效运行的关键，本论文在光学元件的高精度检测和......
随着连续位相板(Continuous Phase Plates,CPPs)等光学元件在激光驱动惯性约束核聚变(Inertia Confinement Fusion,ICF)项目中的广......
近年来,精细天文观测、高分对地观测和空间态势感知等领域对大口径望远镜系统的需求迅猛增长,牵引出一批超大口径望远镜研制项目(......
为保证气囊抛光过程中抛光运动的高稳定性和均匀材料去除率,对气囊抛光非球面过程中气囊工具刚度的可控性进行了研究。通过分析气......
为了实现小口径干涉仪对大口径光学元件的低成本、高分辨力检测,可采用子孔径拼接方法。在对拼接算法进行改进的基础上,开发了拼接......
为了实现大口径反射光学元件表面面形的高精度测量,建立了拼接测量方法,用以得到光学元件表面的面形数据。但拼接测量存在较多误差......
子孔径拼接是利用小口径干涉仪实现大口径光学元件低成本、高分辨率检测的一种有效方法。本文首先对子孔径拼接检测原理进行了详细......
利用子孔径扫描拼接实现大口径光学元件表面疵病的高精度数字化评价,是ICF(Inertial Confinement Fusion)系统中光学元件检测的主......
现今许多大型系统需要大量的大口径高精度平面光学元件，在此类元件的加工中，环抛(Continuous Polishing)是一种非常重要的抛光技术，但......
惯性约束聚变是最有希望实现可控核聚变的途径之一,当前主要发达国家对此都展开了研究。在惯性约束聚变的大型系统中,由于高功率激......
