峰值功耗相关论文
伴随着半导体工艺制造水平的不断进步,电路复杂度、单位面积管子个数和工作频率的不断提高,电路正常工作时的功耗问题不再是集成电......
针对内建自测试（Built—In Self-Test，BIST）技术的伪随机测试生成具有测试时间过长，测试功耗过高的缺点，严重影响测试效率等问题。提出......
提出了基于单周期操作和多周期操作的峰值功耗优化的力引导调度算法。该算法运用传统力引导调度算方法的基本思想，通过对力相关参数......
提出了对同一时钟域中寄存器的测试操作进行划分的方法来降低测试峰值功耗,并且这种划分不需要重新生成测试向量,支持划分前生成测......
提出一种多周期操作峰值功耗优化的改进力引导调度算法．该算法将功耗作为力的参数，能够在调度过程对多周期操作功耗进行平衡分布，实现......
利用FT-SHSim 模拟工具平台,对主流的微处理器核心模型SMT(同步多线程,simultaneous multithreading)和MSS(适度超标量,moderate s......
扫描测试作为数字集成电路设计中最常用的可测性设计方法，能显著提高电路的可测性，但同时也会引起测试功耗问题。本文采用划分待测电......
功耗管控是高性能计算系统和分布式数据中心管理的热点问题。当机房供电受限时需要对机群系统的功耗上限进行控制，使有限的电力适应......
随着手持设备的兴起和芯片对晶片测试越来越高的要求。内建自测试的功耗问题引起了越来越多人的关注，本文对目前内建自测试的可测性......
