薄膜厚度相关论文
为了避免或降低产品在运输过程中的损伤,减缓系统的振动、冲击作用,需要对产品进行缓冲保护。空气垫作为一种性能优良的缓冲包装材......
CoFe2O4作为一种典型的反尖晶石结构的铁氧体材料,其独特的磁电性能为实现忆阻器的多级存储提供了可能,深入研究CFO薄膜的阻变特性......
胶体晶薄膜以其特殊的结构及光学性质引起了广泛关注。将胶体晶薄膜与反射干涉光谱技术（Reflectometric Interference Spectroscopy......
晶圆广泛应用于电子电路与光学仪器等超精密加工及检测领域,其中膜厚与光学常数是晶圆膜的重要参数,对晶圆起决定性作用。目前仍然......
Sn Se薄膜太阳能电池因制备成本低廉、光伏性能优异、制备方法灵活等特点被称为具有潜力的新一代能源器件。但现有的Sn Se薄膜太阳......
为提高消光椭偏测量技术的测量精度,提出了一种基于光弹调制的消光椭偏测量技术。将光弹调制器和两块λ/4波片组合构成旋光调制器,......
基于严格的四层模型，对镀膜长周期光纤光栅在薄膜厚度增加时出现的模式重组现象进行了详细的研究。研究发现，随着薄膜厚度的增加镀膜......
石英晶体振荡监控光学薄膜厚度是直接监控光学薄膜物理厚度的方法,与工作波段无关,设置简单,各种厚度皆可控制,易于实现自动控制,......
针对CuPc-PTCDA有机小分子太阳电池, 根据光学干涉效应和扩散理论, 建立了非相干光吸收模型和激子传输模型, 利用Matlab软件模拟了......
镀膜相移长周期光纤光栅(PS-LPFG)由于其结构及设计的灵活性可以改善光纤光栅的滤波特性。运用传输矩阵法,讨论了在镀膜PS-LPFG中......
利用现代干涉测量方法测量薄膜厚度具有全场测试、高精度和非接触性测量的优点,其核心是用合理的算法从干涉图中获得所需的被测面......
镀膜的级联长周期光纤光栅（Cascaded Long-Period Fiber Gratings, CLPFGs）对膜层的折射率及环境折射率有很高的敏感性, 可用作气体......
摘要：本文选择了（PE/EVOH/PE）、（PE/PA/PE）的三层共挤复合材料及单膜材料LDPE作为研究对象，研究了薄膜材料厚度对薄膜材料阻透性的影响，旨......
铌酸锂(LiNbO3)晶体因具有优良的电光、热电、压电、光折变和非线性光学效应等一系列特殊性质，成为目前用途最广泛的新型无机材料之......
染料敏化纳米晶太阳能电池(DSSC)是一种新型光化学太阳能电池，制作工艺简单、成本低、性能稳定且无污染，可望实现太阳能的大规模使用......
自2001年秋光纯教授发现MgB2的超导性之后,超导科学迈入了一个崭新的时代。MgB2材料廉价,分布广泛,不存在弱连接,具有39K临界转变......
立方晶系的FeS(pyrite)具有合适的禁带宽度(E≈0.95 eV)和高的光吸收系数(λ≤700 nm时,α≥5×10cm),环境相容性好,制备成本较低,......
聚酰亚胺薄膜具有优异的力学性能、耐热性、化学稳定性和绝缘性能，在柔性印刷电路板和电子信息领域得到了广泛运用。同时，聚酰亚胺黑......
薄膜厚度测量是ＶＬＳＩ生产工艺中不可缺少的重要工序，也是保证产品质量提高生产效率的重要手段。采用显微镜－全息凹面光栅－ＣＣＤ－微机处理的测量系......
在半导体生产管理中,成品率管理至关重要。生产中的其它管理均围绕成品率而运作。成品率—性能决定了产品的性能—价格比,决定了产......
真空蒸发制备每cm~2几到十几μg厚的薄膜层很难控制,为此在真空蒸发装置上增设石英微量天平控厚。我们用背散射技术测定了用上述......
激励光辐照薄膜的表面热透镜效应中,调制频率的大小影响样品内热波的热扩散深度。通过频率控制热波扩散深度可以探测不同薄膜层面......
考虑到激光加热过程中电子和晶格之间的不平衡传热特性,将格子波尔兹曼方法(LBM)和双温度模型结合起来,建立了1个两步LBM方程,并用......
采用射频磁控溅射与电子束蒸发的方式,制备了ZnO/Ag/ZnO三层复合薄膜,研究了Ag薄膜厚度以及电子束蒸发的沉积速率对复合薄膜光电性......
【目的】研究在低温贮藏下用不同气调包装方法对分装冬枣品质及保鲜期的影响。【方法】实验材料为冬枣,常温条件下将冬枣分别用不......
纳米级金属-半导体结构材料在半导体和微电子领域占有重要的地位,它具有丰富的物理特性。在寻找高性能金属-半导体结构材料的过程......
目前,偏振探测技术已经得到广泛应用。当一束偏振光,经过物体表面发生反射或者散射后,其偏振态会发生变化,这种变化由目标自身的性......
随着集成电路特征尺寸的不断缩小,占当前存储器主流市场的闪存将面临严峻的挑战。逐渐接近尺寸微缩的物理极限将导致一系列问题,例......
激光激发超声表面波技术是一种准确、快速、无损的检测技术,适用于表征ULSI互连薄膜的参数。本论文深入研究了超声表面波在ULSI互......
本文采用磁控溅射法结合硫化法制备了Zn S薄膜和Zn S:Cu薄膜,并使用XRD,SEM,EDS,AFM,拉曼光谱,慢正电子束多普勒展宽能谱和UV-Vis......
作为下一代新型非挥发性存储器的有力竞争者,阻变存储器具有与当前Si基CMOS工艺相兼容、结构简单、擦写速度快、存储密度高等众多......
本文采用透射光谱法测量Ge基底类金刚石薄膜(Diamond-like carbon,DLC)的光谱曲线。应用测量的光谱曲线,基于模拟退火算法,构建目......
日本红外线工业公司(NiiC),研制出一种测定半导体薄膜厚度的仪器,即椭圆仪(图1) 与以往最多只能测4层,而且只能测吸收系数为0的薄......
目的评价TiO2-xNx薄膜托槽的细胞生物相容性,并探讨掺氮含量与薄膜厚度对其生物相容性的影响。方法制备TiO2-xNx薄膜托槽试样,将L9......
采用乙烷气体辉光放电法在单晶Si衬底上制备了名义厚度分别为75,150和250nm的类金刚石碳(DLC)薄膜,除沉积时间外其他工艺参数完全......
提出了一种用X射线反射术标定光谱椭偏仪的方法.作为一种间接测量方法,光谱椭偏术测得的薄膜厚度依赖于其光学常数,不具有可溯源性......
设计了一套迈克耳孙白光干涉仪系统用于测量光学薄膜的反射相位,并由此反推单层薄膜的物理厚度。为补偿传统算法获取相位所存在的......
准确的测量薄膜的厚度和光学常数,在薄膜的制备、研究和应用中都是十分重要的。借助Cauchy色散模型,通过薄膜透过率测量曲线,用改......
氢化非晶硅(a-Si…H)薄膜在微电子和光电子工业中有着重要的应用,而椭偏分析技术是一种重要的薄膜表征手段。利用椭偏测量技术并采......
为了探究氧化层对金属薄膜表面等离子体共振（SPR）特性的调制作用,实验采用直流磁控溅射技术,通过控制沉积功率和沉积时间制备不同厚......
本文报道用准光波导方法测量了沉积在棱镜底面上的聚苯乙烯和聚醚砜薄膜,确定了这两种聚合物薄膜的折射率和薄膜厚度.并用偏振光测......
本文提出了一种新的测量多层光学薄膜参数的方法。利用玻璃载物片夹一层水再夹一层酒精构成了含有两层准光波导薄膜的多层薄膜结构......
