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随着超大规模集成电路的复杂度和集成度不断提高,集成电路产品达到合格标准的难度也随之加大。在集成电路中,即使是微小的差错也可......
传统的状态覆盖方法对电路的数据单元测试不足,而随机测试方法又具有盲目性·在综合2种方法的基础上,给出一种以状态与状态转换覆......
针对数字电路中难测固定故障测试向量生成效率低的问题,基于失败向量信息实现难测固定故障的测试向量生成.该方法利用难测固定故障......
无回溯并行多路径搜索算法(NBMP)在生成测试向量过程中生成基于原始输入端奇异立方和与原始输出端关联的传输立方,并利用生成的奇......
半导体工艺技术迅速发展加速了集成电路进入纳米/超深亚微米时代,系统芯片SoC(System-on-Chip)大量涌现,导致电路规模、集成度和复......
针对现有的基于最小项的伪装算法不能稳定地生成最小项扰动电路,而且不能控制指定逻辑,使得该技术难以在实际电路中使用的问题,提......
本文提出了一种基于节点活性的硬件木马检测方法,针对电路中的低活性节点生成测试向量,结合多参数旁路检测方法,实现对硬件木马的......
提出一种能兼顾状态内部分杜的状态覆盖方法．在状态内部分枝树的终端结点处添加状态转换语句，将原先的单个转换分成多个转换分枝；从而......
近年来,随着电子信息产业的飞速发展,各种设计新颖、工艺精细的集成电路不断出现,而且在军用、民用、商用各个行业的应用也越来越......
内建自测试（BIST）方法是目前可测性设计（DFT）中最具应用前景的一种方法。BIST能显著提高电路的可测性，而测试向量的生成是关系BIST性能......
硬件木马是对集成电路中添加的恶意模块的统称,其目的是使集成电路在特定条件下泄露信息或不能正常工作。集成电路由于自身设计和......
深亚微米工艺技术和基于IP核复用的系统芯片(SoC)设计技术给集成电路的设计和测试带来了很大挑战,大大增加了测试的难度和成本。BI......
随着半导体集成电路设计复杂度的提高与集成电路制造技术的迅速发展,模拟电路与数字电路经常集成在一个芯片当中,这就需要使用模拟......
电子设计技术的快速发展不仅带动着电子制造行业的不断进步,同时也为电路板测试技术提出了更高的要求。在应对高集成度、高密度的......
集成电路测试技术在集成电路的设计、生产和制造过程中有着重要的意义。为使电路中存在的故障信号能够表现出来，完成集成电路的测试......
