全速测试相关论文
随着生产工艺的进步和芯片复杂度的增加，SoC芯片的测试问题显得越来越重要，传统的测试方法已不能满足现在的设计要求。文章介绍了基......
当工艺进入到超深亚微米以下，传统的故障模型不再适用，必须对电路传输延迟引发的故障采用延迟故障模型进行全速测试。给出了常用的延......
介绍了在系统级芯片（SoC）测试中所用到的基于扫描结构的全速测试。首先介绍了转换故障模型和路径延迟故障模型，以及测试时采用的具体......
全速测试（at-speed ATPG）是现代电子设计中必需的一个重要环节。然而由于在做ATPG时,时序信息不完整,所以某些全速测试的向量会激活......
存储器内建自测试（memory built-in-self-test,MBIST）已成为可测性设计（design-for-testability,DFT）中用以测试嵌入式存储器的重要方......
集成电路以前所未有的进步在多方面影响着社会,包括消费类电子,汽车电子,医疗电子甚至是军事方面。在消费类电子和汽车电子方面,如......
