存储器内建自测试相关论文
存储器作为片上系统（SoC）中最大和最重要的模块之一，它的稳定性和可靠性关乎着整个芯片能否正常工作。为了提高存储器的测试效率，该文......
在微纳米级工艺中,嵌入式存储器出现开路故障的概率增高,从而带来动态故障。当静态故障与动态故障同时存在时,传统的暂停导出内建......
在现场可编程门阵列内嵌块存储器（BRAM）测试中，传统测试方法存在故障覆盖率不高、测试内容较多、测试成本较高等问题。为了提高故障覆......
随着片上系统的应用与创新,嵌入式存储器在片上系统占据的比例越来越高。存储器内建自测试是常用的嵌入式存储器测试技术,对于片上......
存储器内建自测试 (memorybuilt-inself-test,MBIST)是一种有效的测试嵌入式存储器的方法 .在一款通用CPU芯片的可测性设计 (desig......
集成电路工艺的改进使存储器的测试面临着更大的挑战。本文在对存储器的故障模型分析的基础上，对具有代表性的测试算法进行了深入的......
随着SoC电路功能的日益复杂,SoC电路中大量应用了内嵌随机静态存储器,传统的通过MBIST（存储器内建自测试）方式对SoC电路中SRAM的测试......
根据弹性分组环专用集成电路的具体情况，提出了相应的可测性设计（Design for Testability，DFT）方案，综合运用了三种DFT技术：扫描链、边界......
内建自测试（BIST）为嵌入式存储器提供了一种有效的测试方法.详细介绍了存储器故障类型及内建自测试常用的March算法和ROM算法.在一款......
随着SoC的复杂度和规模的不断增长,SoC的测试变得越来越困难和重要。针对某复杂32-bit RISC SoC,提出了一种系统级DFT设计策略和方......
为测试DICE结构抗辐射静态随机存储器(Static random-access memory,SRAM)在生产制造后是否存在故障,针对DICE结构抗辐射SRAM设计......
随着深亚微米技术不断的发展,在SoC设计中存储器需求越来越大,芯片的量产需要有效率而又具有相对的低成本的测试方法。可编程存储......
存储器测试是集成电路测试的重要部分。随着集成电路存储器件向着高集成度发展,存储器测试成本在集成电路总测试成本中所占比例急......
随着IC制造工艺技术的改进和完善,片上系统的集成度越来越高,片上系统中嵌入式存储器的比例也在不断增加。然而,复杂的新工艺也更......
存储器进行内建自测试(Mernory built-in self-test,MBLST)时,其功耗远远高于普通模式下的功耗,致使电路易损坏并降低了芯片成品率......
通过一则设计实例研究SOC（System On Chip）的可测性设计策略;15针对系统中的特殊模块采取专用的可测性策略,如对存储器进行内建自测......
随着存储器需求的增加以及制造技术的进步,嵌入式存储器在SOC系统中的地位越来越重要。与传统的分立存储器件测试相比,嵌入式存储......
随着半导体工艺的发展,SOC芯片的规模越来越大,工艺尺寸却越来越小,并且内嵌的存储器在芯片中所占的比例也越来越大,传统的存储器......
针对SoC芯片中存储器模块的测试问题，在结合设计工具的基础上，提出了存储器的测试结构和方法，并且讨论了存储器模型的应用与调试。......
针对大规模嵌入式存储器可测性设计技术--存储器内建自测试(MBIST)中的故障诊断问题,介绍了MBIST设计的扩展功能--存储器内建自诊......
存储器内建自测试（memory built-in-self-test,MBIST）已成为可测性设计（design-for-testability,DFT）中用以测试嵌入式存储器的重要方......
随着深亚微米技术的快速发展以及人们对数据存储需求的不断增大,存储器的重要性也日趋显现,这主要表现在嵌入式存储器在SoC设计中......
随着集成电路设计和制造技术的不断进步,芯片的集成度和复杂度正按照摩尔定律的速度持续提高。尤其是超深亚微米(VDSM)工艺的使用,......
当今嵌入式存储器在SoC芯片面积中所占的比例越来越大,成为SoC芯片发展的一个显著特点。由于存储器单元密度很高,嵌入式存储器比芯......
EStar是国防科技大学计算机学院自主开发的一款高性能低功耗32位嵌入式微处理器。本文针对EStar微处理器的可测性设计和片上调试的......
深亚微米工艺技术的不断发展和人们对数据存储需求的不断提高,共同促进了存储器技术的飞速发展,存储器的重要性也越发显现。这主要......
芯片的测试是保障芯片的成品率和节约成本的重要手段，随着集成电路芯片的复杂度、集成度不断提高，芯片的测试变得越来越困难，因此面向......
本文首先介绍了存储器测试的背景和意义然后介绍了存储器的电路模型图,存储单元,工作原理。在此基础上介绍了存储器的失效模型和测......
基于IP(Intellectrual Property)核复用的系统芯片(SoC)使得测试问题变得更加突出。针对该问题本文简要概述了SoC中常用的可测性设......
本文结合实际研发要求,对基于USB2.0的数字音频编解码片上系统的可测试性设计（DFT）策略进行了研究。该系统采用UMC 0.13μm CMOS工艺......
