薄膜分析相关论文
本文采用循环伏安电沉积法,通过控制电位扫描周数(n)在玻碳基底上制备不同厚度的纳米结构CoNi薄膜。SEM研究表明,CoNi薄膜均由不规......
采用单靶磁控溅射方法在不同溅射时间下制备了铜铟镓硒薄膜,并且利用激光诱导击穿光谱技术实现对铜铟镓硒薄膜中元素含量比的快速......
铜铟镓硒薄膜中4种元素的含量比对薄膜的性能有非常大的影响。采用磁控溅射方法在不同工作气压下制备了铜铟镓硒薄膜,利用激光诱导......
本研究采用光诱导的方法,通过酒石酸钠和柠檬酸钠晶面导向生长作用,制备了银纳米四面体粒子，利用静电作用将纳米粒子转移到固体基片......
除了继续发展波长色散X射线荧光分析装置在主、次量元素分析上高精度、高稳定性的固有特点之外,进一步提高灵敏度,使分析范围扩展......
建立了应用导管X光透镜的掠出射微区X射线荧光分析系统,并将该系统应用于纳米薄膜的分析.为了提高入射X射线的强度并提高系统的空......
在X射线荧光（XRF）分析中应用基于基本参数法的FP—Multi软件，采用C固定道和Ti、Al、Si扫描道，以99．999％石墨及纯Al、Ti、SiO2四个块样做......
以基本参数法的薄膜分析软件FP-Multi为基础,建立了热镀锌板镀层成分及厚度的XRF测定方法。采用纯Zn、MG012、IQ＋F、IQ＋C等无限厚样......
对卢瑟福背散射分析的基本原理作了概要的介绍.论述了背散射分析的最佳实验条件、质量分辨率和分析灵敏度.列举了卢瑟福背散射分析......
在电子束蒸发沉积硅的同时用25KeV氮离子进行轰击，在GH37合金表面合成Si3N4膜，用IR、XRS、XRD、TEM和AES-PRO对膜的组分和结构进行综......
掠射X射线荧光分析技术是实验室分析薄膜特性的一种重要工具. 文章简述了利用掠出射X射线荧光技术分析薄膜厚度的原理和方法, 介绍......
使用适当近似从理论上给出了共焦显微拉曼光谱仪的纵向仪器响应函数. 针对相对薄(几个μm)的样品(诸如半导体薄膜材料)给出了一个......
目的探讨各型黄疸患者δ胆红素检测及临床分型价值.方法用干化学法对临床多型黄疸患者及正常人血清进行胆红素检测,并作统计分析.......
X射线技术在薄膜分析中具有重要作用。小角度X射线反射率检测是不透明材料、金属薄膜和多层结构的唯一非破坏性分析方法。但是,一......
Schimmel腐蚀液腐蚀结合高倍光学显微镜观察发现,不同尺寸的掩膜窗内生长的SiGe外延层中的位错密度在整个外延层中从SiGe/Si界面到......
除了继续发展波长色散X射线荧光分析装置在主、次量元素分析上高精度、高稳定性的固有特点之外,进一步提高灵敏度,使分析范围扩展......
建立了应用导管X光透镜的掠出射微区x射线荧光分析系统．并将该系统应用于纳米薄膜的分析。为了提高入射x射线的强度并提高系统的空......
目的了解干化学法与湿化学法在检测各类型黄疸患者的胆红素的差异。方法分别用干化学法和湿化学法对临床多型黄疸患者的血清进行了......
论述了波长色散X射线荧光分析装置的发展状况。除了继续发展其在高含量、常量和微量元素分析上高精度、高稳定性的固有特点之外,在......
