随着集成电路的使用环境变得更加严酷,为了保证芯片在较大的温度范围内有较高的稳定性,在芯片的可靠性评价考核过程中必须对芯片进......

电流测试是逻辑门电路量产测试的重点和难点.为逻辑门电路设计了一套电流测试方案:一是构建了电流测量单元,探讨了输入缓冲电路、......

摘要：本文测试的芯片是一款针对物联网市场开发的高性能2.4 GHz/5 GHz双频Wi-Fi射频芯片，支持802.11 a/b/g/n，Wi-Fi Direct、Soft AP......

工艺参数的变异导致半导体制造过程的偏差。这种变异无法避免而且在深亚微米领域,受限于光刻分辨率;氧化层腐蚀造成厚度的改变,因......

随着市场对电子产品应用的多样化、复杂化以及对性能的高要求,SOC芯片结构也越来越复杂,从而芯片的测试难度、效率、覆盖率也面临......

SOC DigRF是基带芯片和Smarti射频芯片之间的高速数字接口,不但满足应用领域用户对于高带宽的数据密集型需求,更是智能移动设备不......

讨论了数模混合芯片的典型测试方法,并按测试方法进行了测试开发;讨论了测试调试中的问题以及降低测试成本的方法。该设计可满足芯......

目前国内各种电子产品需求飞速增长,每年对集成电路芯片的需求量成几何增长,随着各类电子产品的数码化和大容量化,对芯片的需求还......

RFID (Radio Frequency Identification),由于其非接触性、便利性的特点,已经广泛应用于第二代个人身份证卡、公共交通卡、公司门......

本文将根据实际芯片量产时机台测试环境来搭建基于FPGA的DFT验证平台具体解决方案，来解决芯片量产ATE设备进行测试所带来的一些弊端......