穷举测试相关论文
本文概述了数字系统的内装自测试(BIST)的原理和实现。在第Ⅰ部分,作者提出了BIST的各种论点以及经济上的优劣,并介绍了有关的分层......
征兆测试是一种高效简捷的电路测试方法。该文提出一种适用于大规模集成电路的测试方法——组合征兆测试法。利用这种方法,测试者......
本文介绍了可测性设计的基本概念。通过几种典型的设计技术,介绍了可测性设计的发展概况。
This article describes the basic co......
序言微电子技术是计算机技术发展的基础。集成电路的测试是微电子技术的重要组成部分,主要用于三方面: 1.设计验证。设计一个复杂......
提出一种基于电路结构的伪穷举测试生成算法,通过对待测电路的逐步二块划分和对各个子电路的穷举测试,形成待测电路的伪穷举测试集......
现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array,FPGA)因其柔韧性、并行性等特点,在通信、消费电子等领域得到越来越广泛的应用......
遗传算法不仅仅是一种单纯的优化算法，而是一种以进化思想为基础的一般方法，对于复杂问题的解决是一个有力工具。遗传算法是概率性全......
文中针对最后一级采用４位ＣＬＡ加法器级联的Ｍ×Ｎ位ＣＳＡ／ＣＬＡ阵列乘法器，讨论了一种非常有效的测试生成方法．该方法不依赖于乘法器的大小以及乘法器基本......
