CMOSIC相关论文
本文介绍了NJU501/NJU502系列压电蜂鸣器单曲调CMOS IC的功能、特点及应用。
This article describes the NJU501 / NJU502 serie......
美国 I-Cube,InC 已开发出了667Mb/s 的开关 IC(OCX160),从2001年1月开始发货。在667Mb/s 的开关 IC 中,大多数产品都是使用 GaAs......
一 前言: 随着集成电路向大规模、高速化、微细化方向的发展,对生产工艺的监控、检测也日益显得重要了。硅栅CMOS集成电路的工序较......
CMOSIC内形成的寄生可控硅由于外部噪声引起的导通现象称之为锁存(Latch up)现象。由于这种现象的存在引起CMOS集成电路的误动作或......
ＣＭＯＳＩＣ中浮置栅缺陷的电气模型：Ｉ＿（ＤＤＱ）测试的意义＝ＥｌｅｃｔｒｉｃａｌｍｏｄｅｌｏｆｔｈｅｆｌｏａｔｉｎｇｇａｔｅｄｅｆｅｃｔｉｎＣＭＯＳＩＣ＇ｓ：ｉｍｐｌｉｃａｔｉｏｎｓｏｎＩ＿（ＤＤＱ）ｔｅｓｔｉｎｇ［刊，英］／ＣｈａｍｐｅｃＶ．Ｈ．...
Electrical model of floating gate defects in CMOSIC: Significance of the I_ (DD......
本文介绍了用于硅栅CMOSIC园片级工艺诊断和可靠性监控的微电子测试图形。重点论述了(1)用于检测漏、源及多晶硅薄层电阻和因扩散......
对一种结构简单的互阻ＣＭＯＳ放大器的工作原理进行了分析，着重对其灵敏度、频率特性和动态范围等参数与电路结构参数之间的关系进行了模拟......
总结了当前已发展出的各个层次的 CMOS低功耗设计技术和低功耗设计方法学的研究进展。重点介绍了时序电路的优化、异步设计、高层......
阐述了高压大电流快速ＣＭＯＳ驱动器的基本原理及电路设计，版图设计，工艺设计和封装等关键技术，给出了产品研制的结果。......
本文介绍了用于硅栅CMOSIC园片级工艺诊断和可靠性监控的微电子测试图形。重点论述了(1)用于检测漏、源及多晶硅薄层电阻和因扩散......
ESD保护电路已经成为CMOS集成电路不可或缺的组成部分,在当前CMOS IC特征尺寸进入深亚微米时代后,如何避免由ESD应力导致的保护电......
