存储器测试相关论文
为有效测试计算机硬件，帮助用户全面了解计算机各硬件模块性能，对计算机硬件测试系统进行设计研究。文章在通用设计、文档需求、测试......
随着存储器的不断发展，实现存储器全地址多功能测试所需要的向量深度也迅速地变大，有些甚至已经超出了测试系统本身存储容量的限制，因......
集成电路设计水平飞速发展,世界范围内集成电路制造水平已经步入到7nm量产时代。近几年来,虽然我国集成电路的发展日新月异,但是由......
该文内容即为研究一种混合信号电路的可测试性设计方法.该论文基于两个JTAG边界扫描测试体系标准,并将数字电路JTAG体系标准IEE114......
随着集成电路工艺尺寸不断缩小、电路设计规模不断变大，高性能多核通用处理器正面临着高可靠性、高质量、低成本、低功耗等日益严峻......
介绍了瞬时电离辐射环境中SRAM型FPGA配置存储器测试的实现方法，提出了将辐射回避应用于FPGA瞬时电离辐射效应测试的方法，设计了......
微控制器和存储器测试是集成电路中的难点和重点，AT89C2051则集成了MC-51TM处理器和2Kbyte可编程Flash存储器两大类电路。研究该电......
本文提出了一种高频存储器测试专用的扫描测试电路结构,该结构采用串行扫入数据,并行运算,串行扫出结果的流程,其中可调节的高频时......
摘要随着半导体技术的迅猛发展，数字信号处理器（DSP）的性能和集成度迅速地提高，DSP 产品得到了日趋广泛的应用。本文介绍了以 AD 公司......
储器是现代电子系统中不可缺少的一个组成部分。按存储性质分类,可分为:SRAM静态RAM(Static RAM);DRAM动态RAM(Dynamic RAM);PROM......
惠瑞捷(Verigy)推出了全新的HSM3G高速存储器测试解决方案,进一步拓展了面向DDR3世代主流存储器IC和更高级存储器件测试能力的V930......
IC芯片的测试与分析是数字电路分析、设计维护与生产的重要手段,在数字电路应用日趋广泛的今天,数字IC、数字电路的自动测试与分析......
PC机上电后不能启动而只是发出几次“嘟嘟”声就停机,怎么办?使用本文介绍的POST诊断卡可以帮助你找出故障所在部位。 自1983年以8......
针对某型指挥仪上含有处理器芯片、复杂可编程逻辑器件（CPLD）的1553B总线通讯模块的测试与诊断问题；通过对边界扫描测试技术和测试算......
根据新形势下存储器单粒子试验的特点，基于FPGA和虚拟仪器相结合的方式设计了一款针对存储器单粒子效应的测试系统。该系统改进了传......
摘要：针对存储器的特点，介绍了存储器简化的功能故障模型．基于一种既可以测试静态简化故障又可以测试动态简化故障的MarchSS算法，提出......
针对目前存储器测试算法的故障覆盖率和测试效率不能兼顾的情况,提出一种新的棋盘走步测试算法。通过对存储单元的数据构造棋盘图......
基于一种适合于测试静态简化故障的MarchSS算法,提出了一种改进的嵌入式随机存取存储器测试算法-MarchSSE算法。该算法在测试长度......
随着芯片集成度的提高和表面贴装技术（SMT）的广泛使用,传统的针床在线测试已不再适合使用,而边界扫描技术在芯片级、板级、系统级测......
随着航空航天事业的发展,器件的抗辐照性能变得越来越重要,因此对抗辐照指标的应用测试已显得至关重要。基于FPGA和NI工控机,设计......
针对目前嵌入式存储器测试算法的测试效率与故障覆盖率难以兼得的现状，提出了兼顾二者的测试算法。实验结果表明该算法最适合对存储......
集成电路工艺的改进使存储器的测试面临着更大的挑战。文中从存储器的故障模型入手。着重描述了存储器常见的诊断算法。诊断算法和......
存储器制造商一直在寻找一种既能满足其生产和功能需求又能提供比一代器件寿命更长、投资价值更高的节约型ATE解决方案。......
对系统嵌入式存储器进行测试是非常重要的,内建自测试(built-in self-test,BIST)方法是系统工作期间测试存储器的有效方法.基于存......
随着半导体技术的迅猛发展,移动存储设备快速增长。Flash芯片作为移动存储设备中最常用的器件,得到了日趋广泛的应用,对Flash芯片......
针对超大规模SoC（System on Chip）芯片中存储器的测试需求,首先分析存储器测试中存在的主要问题,包括新故障模型和新算法的需求、对......
边界扫描测试技术是一种基于集成电路可测性设计的测试技术,通过对集成电路内部测试寄存器输出响应的分析完成电路系统的测试及故......
随着系统集成度与加工技术的飞速发展，超大规模集成电路测试已经成为一个越来越困难的问题。测试的理论与技术已经成为VLSI领域中的......
随着集成电路IC和互联网的快速发展,片上系统SoC已经成为了集成电路设计的主流之一。在超深亚微米工艺VSDM的使用和数据储存的应用......
学位
本文描述了动态字存储器测试的故障模型并分别分析了其单个单元故障 ,字内耦合故障 ,字间耦合故障的测试算法 ,并综合得到最优的动......
随着半导体技术的迅猛发展,移动存储设备快速增长。FLASH芯片作为移动存储设备中最常用的器件,得到了日趋广泛的应用,对FLASH芯片......
为了保证单片机系统的可靠性,对单片机内嵌存储器的测试显得尤为重要。根据MCS-51系列单片机系统内嵌存储器的结构特点和故障模型,......
期刊
DDR SDRAM是Double Data Rate SDRAM的缩写(双倍数据速率),在时钟脉冲的上升和下降沿均进行数据的输入输出.DDR SDRAM内存技术是从......
随着深亚微米等高科技技术的发展，存储器在SoC以及所有集成电路产品中所占的地位变得越来越重要。存储器芯片的容量变得越来越大，集......
存储器是各种电子设备保存信息的主要部件，随着存储器芯片的密度、复杂度日益提高及广泛应用，对存储器的全面测试和故障诊断，对保......
随着电子技术的发展,电子芯片的结构越来越精密,外围引脚排列越来越紧凑,内部逻辑也越来越复杂,对大规模集成芯片的测试难度也大大......
<正> 一、电子测量仪器在国民经济发展中的地位和作用电子测量仪器主要是指用电子学方法测量电磁量和许多非电量参数的仪器。其使......
随着超大规模集成(VLSI)技术的迅猛发展,集成电路(IC)芯片中晶体管的数目指数倍增加。然而,受到微电子技术、材料的物理极限和资金......
随着超大规模集成电路迅速发展,芯片的集成度越来越高。而供外部调/测试的引脚却很少,调测试问题日趋困难。于是,为了降低硅片后的......
当前,功能安全已成为国内外安全生产领域的热点问题,功能安全标准IEC61508的发布,规范了安全相关系统的设计、应用及管理等各个方......
为了提高存储器的边界扫描测试软件的通用性，提出一种基于TCL语言及边界扫描技术的存储器测试脚本设计方案。结合存储器测试理论及......
针对含DSP电路板的测试与诊断问题,本文提出一种利用边界扫描技术和传统的外部输入矢量测试相结合的方法,对含DSP电路板中的边界扫......
存储器的高集成度化、高速化,为存储器测试带来了极大挑战。论文介绍了存储器测试图形的原理和发展,基于传统的存储器测试图形,综......
