测试算法相关论文
Flash存储器具有成本低、密度大和掉电不丢失数据的特点,在存储器市场中所占的比例越来越大,已广泛地运用于各个领域。同时flash存......
随着计算机的普及应用，人类对软件的依赖程度愈来愈大，对软件质量的要求也在不断提高。软件测试是保证软件质量的主要手段。可是随着......
移动自组织网络MANETs(Mobile Ad hoc networks)具有网络拓扑动态变化和自组织的特性,被广泛的应用于军事,救灾和医疗等重要领域。......
降落伞空投试验是测试降落伞性能指标的一个必要步骤。降落伞的轨迹、速度和动载等性能指标都是要在空投试验中取得的。基于GPS的......
言语测听技术正越来越多地应用于听力学临床诊断和康复评估。测试患者在噪声中的言语识别能力，对于评估噪声性听力损失患者、老年性......
本文主要介绍了一种SRAM内建自测电路的设计与应用。本文设计的SRAMBIST电路具有故障覆盖率高、结构简单和可复用性高等特点。 ......
随着信息化和数字化技术的发展，双端口静态存储器在高速多处理器系统中广泛应用。其具有的高性能提高了存储器测试的复杂度，增加了测......
该文从挂篮荷载计算、施工流程、支座及临时固结施工、挂篮安装及试验、合拢段施工、模板制作安装、钢筋安装、混凝土的浇筑及养生......
集成电路工艺的改进使存储器的测试面临着更大的挑战.本文从存储器的故障模型入手着重描述了单端口存储器,字存储器,多端口存储器......
本研究诣在提出并检验通过近红外光谱技术测试运动员个体无氧阈的测试算法的合理性。以18名吉林省某足球俱乐部运动员为实验对象，在......
提出了一种具有自诊断功能的位定向MARCH-TB+算法,并在此算法的基础上,用共享型内建自测试电路结构完成了2k×1位嵌入式内存的......
直流写、直流擦以及漏极干扰是影响Flash存储器长期有效保存数据的主要原因,本文在Mohammad失效模型的基础上提出了一个更优的测试......
针对现有边界扫描测试快速测试算法存在征兆混淆现象的问题,在深入分析多种测试算法的基础上,提出一种抗混淆的自适应测试算法.首......
内建自测试是降低ADC电路测试成本的有效方法.通过最小二乘法和斜坡柱状图,我们得出了测试ADC电路的增益误差、失调误差、微分非线......
随着微电子技术的快速进步,半导体集成电路高速发展,新的存储器测试技术也不断更新。文章描述了存储器的经典测试算法运算过程,并......
具体研究on-Chip SRAM的内建自测试及其算法.在引入嵌入式存储器内建自测试的基础上,详细分析on-Chip SRAM内建自测试的具体实现方......
由于利用知识指导最佳的寻找的、存在基因算法没能有效地解决开凿者的建筑群的不足蓬勃发展结构的优化问题。改进优化效率和质量，一......
印刷电路板（简称PCB）测试机的测试算法是PCB测试机的核心，它直接决定测试机的测试功能和测试速度。在现场可编程门阵列（Field programm......
为实现红外热像系统性能检测设备的国产化，设计了检测仪的电路系统。针对红外系统的关键测试指标，提出了检测仪的总体设计方案，详细阐......
存储器芯片是一种应用广泛的数字集成电路,必须经过许多必要的测试以保证其功能正确.对于其入厂检测来说,测试向量不仅要自行开发,......
通过对变包测量算法和包对/包队列测量算法的理论分析,得出其各自在不同环境下可用性、准确性、健壮性、时效性的分析结果,说明其......
嵌入式Flash存储器作为便携式设备的基础,其在存储器市场占据较大的市场份额。由于测试成本是影响芯片成本的重要因素,研究减少Fla......
在系统总结已有人体平衡能力测试算法的基础上，综合和借鉴其它学科的研究方法，提出了变异系数、矩等新的评价算法，并在中国科学院合肥......
集成电路的发展趋向于高密度、高集成度、小体积、高性能,因此经典的传统测试方法越来越不能适应当下的测试需求,对于数字电路和数......
对单端口SRAM常用的13N测试算法进行修改和扩展,提出了一种适用于双端口SRAM的测试算法.该测试算法的复杂度为O(n),具有很好的实用......
针对机床碰撞检测系统中的碰撞器的设计与实现，提出一种采用层次包围体结构的碰撞器模块设计方案。对碰撞器设计中的基本图元测试、......
本文提出了一种多输出电路的改进TC测试法.该方法根据多输出电路的输入输出的函数关系把电路按输出分解,然后按照各个输出的相关输......
分析全0（1）＋01（10）并行序列算法、极大权值极小相异性算法、自适应完备诊断算法和遗传算法4种边界扫描测试生成算法,对比其各自的优缺点......
目前，半导体存储器(RAM)是应用范围最广、使用数量巨大的集成电路。随着电子设备的智能程度的提高和计算机通讯的飞速发展，促使半导......
文章研究了印制电路板（PCB）网络点集合分割算法,提出了网络集加激励产生响应的测试算法,给出了基于该算法的测试逻辑电路和控制流程......
本课题首先对半导体器件的测试概念进行了介绍,从半导体测试系统的种类及其自动测试系统设备和SPI FLASH存储器测试方法三个方面入......
针对超大规模SoC（System on Chip）芯片中存储器的测试需求,首先分析存储器测试中存在的主要问题,包括新故障模型和新算法的需求、对......
According to the delay property, linear time-delay(LTD) systems can be classified as LTD systems with dependent delays(L......
作为商用集成电路生产的重要环节,芯片测试在降低芯片生产成本,缩短设计周期,实现利益最大化中发挥着越来越大的作用。随着全球信......
当今大规模集成电路的发展主要体现在电路设计规模的增大和芯片制造工艺的进步两个方面。电路设计规模的增大很快使设计周期变得越......
电路板上元件通常由模拟器件、数字器件、混合器件及接插件等构成,电路板的广泛应用使得对电路板测试的需求日益增加。电路板自动......
超深亚微米等技术的应用使得电路的集成度日益增高,大规模数字集成电路的测试难度越来越大,芯片测试尤其是存储器的测试遇到了前所......
存储器由于其应用广,产量大,成为了半导体行业的支柱。近年来,存储器芯片容量增大,单元密度增加,制造工艺越来越复杂,造成生产出的......
JTAG边界扫描机制是用于在线导通测试的新技术,它提供了对电路板上元件的功能、互连及相互间影响进行测试的一种新方案,极大地方便......
随着科技的发展，越来越复杂的印刷电路和多层板在现代电子应用系统中得到了非常普遍的应用。这使得芯片引脚在数量和密度上不断的提......
学位
传统的自动测试设备（ATE）已经不能满足大规模集成电路测试的需求,芯片内建自测试（BIST）已经逐步运用到芯片测试中。在片上系统（SOC）的微......
激光切割雕刻机是集机、光、电等技术于一体的高技术,具有高速、高效率、高精度和无污染等优点,并广泛应用于汽车、半导体元器件、......
本文首先建立通用数字IC的故障模型,引入故障等效和支配的概念,将IC最小完备测试集的算法复杂性从0(2~n)降低至0(n)。本文给出组合......
本文以Xilinx公司的Virtex型FPGA芯片为实例,研究基于SRAM架构的FPGA芯片的功能测试的测试理论和测试方法。在理论分析的基础上,针......
本文首先介绍了存储器测试的背景和意义然后介绍了存储器的电路模型图,存储单元,工作原理。在此基础上介绍了存储器的失效模型和测......
引言近年来,消费者对电子产品的更高性能和更小尺寸的要求持续推动着SoC（系统级芯片）产品集成水平的提高,并促使其具有更多的功能和......
伴随着电子技术和边界扫描测试技术的飞速发展,新的边界扫描测试算法也在不断涌现;而边界扫描测试的算法,一般都是 指在互联模型的......
