伪随机测试相关论文
在对超大规模集成电路进行随机测试的测试码之间的距离作定量分析的基础上,改进了最大距离测试算法中测试码的生成方法,使得所生成......
随机测试在数字系统的故障测试中已经得到了多年的应用，传统的随机测试虽然具有简单性和直接性特点，但同时也存在着效率比较低的缺陷......
用伪随机向量加确定性向量对数字电路进行测试是一种常用的测试方法。本文针对由被测电路自己产生测试向量取代LFSR伪随机向量,提......
集成电路测试是保证集成电路高质量的一种有效途径,也是目前集成电路开发与设计的过程中不可或缺的一个环节。随着集成电路的迅速......
混合信号电路在通信、多媒体等领域获得越来越广泛的应用.然而,测试也变得更复杂.传统上对模拟电路的测试采用的是直接功能测试,即......
对超大规模集成电路进行随机测试的测试码之间的距离作了定量分析,在此基础上,改进了最大距离随机测试算法中测试码的生成方法,使......
随着集成电路设计复杂度和工艺复杂度的提高,集成电路的测试面临越来越多的挑战,内建自测试作为一种新的可测性设计方法,能显著提......
针对超前进位加法器(CLA),提出了一种高效的BIST架构.这种新的架构结合了确定性测试和伪随机测试的优点,并避免了各自的短处.同时,......
为了用较少的硬件和测试时间开销获得对被测电路较高的故障覆盖,提出了一种数字集成电路测试中多扫描链的配置方法.该方法基于最大......
针对系统芯片SOC测试出现的难题，介绍了几种目前国际上研究较热的内建自测试BIST（Built In Self Testing）方法，分析了这几种方法的优缺......
利用伪随机序列作为测试激励，通过计算输入输出的互相关函数得到K维特征空间，在特征空间的基础上进行分析，判别电路有无故障，实验证明......
伪随机测试在数字系统的故障测试中已经得到了多年的应用，但传统的伪随机测试存在着效率比较低的缺陷。针对该缺陷提出了在伪随机测......
研究构成仿真环境的策略及软硬件协同验证环境的接口实现,介绍了用于功能和性能验证的软件伪随机测试生成方法.该方法对SoC和复杂......
面对处理器巨大的验证空间,伪随机激励生成器成为处理器研发中必不可少的工具。处理器设计改变尤其是架构和指令集的变化会导致之......
在原相移器设计算法的基础上，通过增加一个伪随机数生成函数来选择异或节点的相移器设计算法。实验结果表明，此算法不仅克服了原算法......
提出了一种片上系统内嵌IP芯核测试响应的空间压缩方法.将内建自测试中的测试矢量(样式)计算器状态作为空间压缩器的输入,只需利用......
提出了一种基于扫描自测试的确定与混合模式新方案,这种方案依赖于一个新型的模式生成器,它主要配备一个可编程的约翰逊计数器,称......
研究细胞自动机（CA）在超大规模集成电路（VLSI）伪随机测试中作为测试激励的结构和实现方法.通过对线性反馈移位寄存器（LFSR）生成序列的采......
由于不确知那些不属于IP芯核测试集的测试矢量的无故障响应，造成在伪随机测试下测试者无法获取被测IP芯核的无故障特征，上述事实构成......
结合视频模式识别模块的仿真验证，介绍了一种基于Verilog的随机时钟误差测试平台的设计方法。利用Verilog提供的随机数生成函数，并对......
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随着集成电路技术的不断发展,数字电路的可测性设计和自动测试向量生成的研究日趋重要。论文的主要工作是在深入研究数字电路测试......
随着科学技术的日益进步，许多可测性设计方法得到广泛研究并应用于提高集成电路的测试质量和降低成本。内建自测试方法是其中研究较......
