应变系数相关论文
高压光纤复合海底电缆结构复杂、敷设环境特殊,日常巡检和状态检测实现难度大,利用分布式光纤应变和温度测量设备对其进行监测十分......
应变片测试技术是一种方便的测试结构重点部位应力分布的试验方法,试验中需要进行系数校准,本文针对常见的几种校准方法进行了对比......
在基于布里渊拍频谱功率的分布式光纤传感系统中,提出对任意多模声波导结构光纤的应变与温度系数进行理论计算的方法。布里渊拍......
Ko位移理论能够很精准地对结构进行变形重构,为了将这一理论应用到实际工程中,选用光频域反射(OFDR)分布式光纤传感器作为测量工具......
传感器技术与通信、计算机并称为现代信息产业的三大支柱,是衡量一个国家智能化、数字化的重要标志。随着检测精度的不断提高和服......
学位
具有良好可读性和稳健性的变系数模型在经济学领域应用广泛。本文提出了一种全新的随机效应变系数空间滞后面板模型,构建了该......
布里渊光时域分析技术(BOTDA)具有抗干扰、防腐蚀、精度高、能实现连续性测量等优点.在工程应用中,其涉及的主要技术问题之一为确......
该文讨论了烧结峰温T对厚膜应变电阻性能的影响。实验证明,烧结温度对不同Ru-基厚膜应变电阻的影响不同;RuO>BiRuO>PbRuO;随着T上升,方阻......
本文研究了不同掺杂浓度下多晶硅薄膜的迁移率、应变系数等电学参数与温度的关系。通过霍尔迁移率的测试,给出了硼掺杂多晶硅薄膜......
结合工作实际,阐述了用DBSL-3t拉压力传感器作为测量标准,测量8000N·m应变式扭矩传感器应变系数的方法,并就其测量结果不确定度进......
采用脉冲激光溅射法制备硼掺杂多晶硅薄膜,研究了不同频率下多晶硅薄膜的晶粒尺寸以及压阻性能。用扫描电子显微镜表征在不同的激......
重掺杂多晶硅纳米薄膜具有良好的压阻温度特性,用它制作高温压阻式传感器灵敏度高、成本低,具有广阔的应用前景.为优化多晶硅纳米......
重掺杂多晶硅纳米薄膜具有较大的应变系数和良好的温度特性,是制作力学量传感器的理想压阻材料.为优化多晶硅纳米薄膜的压阻特性,就淀......
对磁控溅射和低压化学气相淀积(LPCVD)2种方法制备的多晶硅薄膜的电学和压阻特性进行了研究,并讨论了结晶化工艺对磁控溅射薄膜性质的......
利用LPCVD制备重掺杂多晶硅薄膜,在0-560℃温度范围内对薄膜的压阻效应进行研究,同时对多晶硅薄膜应变系数随温度的变化,以及薄膜的淀......
为解决PALIO后桥国产化过程中寿命达不到要求的问题,采用电测法测得了进口件和几种工艺条件下的国产件PALIO后桥在扭转台架疲劳试......
本论文通过直流脉冲磁控溅射法将无择优和(100)择优的ITO薄膜沉积在石英片及Si(100)晶片表面,同时,将无择优和(100)择优的ITO薄膜......
<正> 一、前言扩散型压力传感器已有不少报导。本文介绍的多晶硅薄膜压力传感器则具有许多不同点。例如,感知变形的为多晶硅薄膜、......
利用低压化学气相沉积(LPCVD)技术制备了不同掺杂浓度的多晶硅纳米薄膜,并对样品的压阻特性进行了测试.采用最小二乘法对实验数据进行......
通过对厚膜电阻导电相、玻璃相的粒径控制、粒径比搭配以及在导电相、玻璃相中掺杂,研制成一种厚膜力敏电阻浆料,其应变系数GF可达15......
在压阻传感器方面,与单晶硅相比,多晶硅薄膜器件无需p-n结衬底隔离,可实现高温工作;与绝缘体上单晶硅(SOI)相比,其具有工艺简单、制......
采用脉冲激光沉积法(PLD)制备磷掺杂多晶硅薄膜,研究磷掺杂分数对多晶硅薄膜压阻性能的影响。结果表明,随着磷掺杂分数增大,多晶硅......
多晶硅薄膜在一些半导体器件及集成电路中得到了广泛的应用。由于多晶硅生产成本低,效率稳定性好、光电转换效率高,多晶硅薄膜的研......
超薄多晶硅薄膜具有优异的压敏特性。铝诱导层交换(ALILE)制备多晶硅薄膜具有成膜温度低薄膜性能优良等特点。利用ALILE方法在玻璃......
前言微机电系统(microelectro—mechanical systems,Mems)是指可批量制作的,集微型机构、微型传感器、微型执行器以及信号处理和控制电......
针对基于布里渊散射原理的分布式传感光纤的标定问题,本文研发了一套分布式传感光纤标定系统。利用BOTDR测量仪器,可以标定分布式传......
科学技术的快速发展,使得多晶硅薄膜的制作工艺得到了完善优化,并且,多晶硅薄膜也已经得到了广泛的应用。本文介绍了结合现有工艺......