故障覆盖相关论文
本文给出了一种基于代数学和拓扑学技术的自动测试向量生成系统。其中采用了电路分块,可测性度量,q值函数,修正试探法,交互性故障......
一九九七年五月六日至九日,在上海国际展览中心举行的上海国际电子生产设备工业展览会上,惠普公司电路板测试系统及其几项新技术......
本文讨论了板级生产测试的开发。该电路板采用表面安装技术,并实现了边界扫描。板上混装了几种类型的器件。文章介绍了一种有效开......
概述一些容错设计方案后综述了反映容错设计有效性的可靠性估计模型。
After a brief overview of some fault-tolerant design a......
介绍了一种VLSI功能测试生成的结构分析法。它采用Petri网作为测试序列的模型工具,通过简化Petri网选择不确定度最小的测试序列,以......
今天强调的系统芯片和有关测试问题趋向于把它们安排在不断增加的混合信号设计的数字部分。尽管数字部分经常被视为SoC电路的一小......
本文主要介绍了用于ASIC检测与诊断的一种新方法:ScanBIST,并对可测性设计,边界扫描技术进行了研究。
This article mainly intro......
将Poage提出的三值特性的逻辑式变形一下,得到包含故障的二值逻辑式。用图形来表示成全通路图。它简化后成为逻辑通路图。用前一概......
测试费用一直是电子产业的一大关心话题.由于电子设计自动化降低了设计费用,增大了系统和子系统的复杂性,因此,测试费用对利润的影......
本文应用必不成环的概念提出一种产生组合网络多故障测试的算法,文中定义了一阶和高阶必不成环测试函数并给出了用已经检测的故障......
为了满足电子制造商把产品更快推入市场和元件进一步小型化的要求,HP公司推出第一种自动光学检验(AOI)系统。这种HPBV3000系统致......
针对复杂可修系统提出不可恢复故障的概念，建立了考虑不可恢复故障可修系统的新的可靠性指标体系，包括状态类指标及系统指标两部分，并......
本文提出了一种新的缩短随机测试序列长度的方法，它是在找到电路中难测故障分布的基础上，通过对电路的初始输入施加概率不等的“１”信......
在内建自测试的基本原理上实现了一种有效地适用于16位定点DSP的BIST设计方案，包括内部逻辑的BIST设计和Memory的BIST设计；通过与IEE......
