mBIST相关论文
Flash型FPGA配置芯片相较于反熔丝配置芯片和可擦除可编程只读存储器（EPROM）型配置芯片，具有非易失性、功耗低、安全性高、可多次编程......
期刊
March算法是一系列用以测试片上随机存储器的测试算法,通过搭配存储器内的内建自测试系统（mBIST）与功能故障模型,可以检测存储器中存......
3D NAND Flash是一种非易失性存储器,和NOR Flash相比,它更适合于数据存储。近些年关于3D NAND Flash的研究和生产投入越来越多,存......
近年来,随着集成电路的不断发展,芯片规模越来越大,复杂度越来越高。芯片集成度的增大,给设计和测试带来了诸多挑战,其中测试已成......
随着SoC电路功能的日益复杂,SoC电路中大量应用了内嵌随机静态存储器,传统的通过MBIST（存储器内建自测试）方式对SoC电路中SRAM的测试......
内建自测试（BIST）为嵌入式存储器提供了一种有效的测试方法.详细介绍了存储器故障类型及内建自测试常用的March算法和ROM算法.在一款......
为了克服嵌入式存储器故障对整个SOC系统的影响,采用基于存储冗余单元的嵌入式存储器软修复技术.针对软修复技术修复符号信息易丢......
现代ASIC设计中，存储器特别是SRAM的使用必不可少，用于存放大量数据。在稍微大的电路设计中，可能会需要多片不同大小的SRAM以配合整体......
多片嵌入式SRAM的测试一般由存储器内建自测试MBIST设计来完成。为了迎接多片SRAM的测试给DFT设计带来的挑战。文中以一款基于SMIC......
可测性设计已应用在大规模集成电路设计中。本文介绍了可测性设计原理和实现技术。同时介绍了一款无线局域网（WLAN）芯片,根据该芯片......
家庭网关是家庭信息化的关键设备，随着以IP核复用为基础的SOC设计技术的发展，片上存储器的使用变得越来越普遍．存储器在SOC系统中占有......
FinFET作为现在最前沿的晶体管技术,在嵌入式存储器上得到了广泛应用.但是,新的工艺也带来了新的缺陷.Synopsys公司通过故障建模及......
随着制造工艺的进步和SoC功能的日益丰富,现代SoC大多会集成大量不同种类的嵌入式SRAM,三单元耦合故障对电路的影响开始加深.传统M......
随着存储器需求的增加以及制造技术的进步,嵌入式存储器在SOC系统中的地位越来越重要。与传统的分立存储器件测试相比,嵌入式存储......
随着半导体工艺的发展,SOC芯片的规模越来越大,工艺尺寸却越来越小,并且内嵌的存储器在芯片中所占的比例也越来越大,传统的存储器......
了降低测试成本,提高测试效率,将测试资源划分技术和测试端口复用技术相结合,基于ATE外部测试和BIST内部测试的优点,进行可测性设......
边界扫描（BSD，有时也称为JTAG）和存储器内建自测试（MBIST）是两种常用的集成电路可测试设计技术，然而如何有效处理MBIST产生的众多管脚是D......
针对SRAM内建自测试（MBIST）,介绍几种常用的算法,其中详细介绍March C＋算法,在深入理解March C＋算法的基础上对其提出改进,以此提高MBI......
随着微电子工艺的不断进步，SoC芯片设计中SRAM所占面积越来越大，SRAM的缺陷率成为影响芯片成品率的重要因素。提出了一种可扩展的存......
现代SOC电路中,嵌入式存储器所占规模与数量趋于变大,使得测试也越之复杂,目前常用的测试方法是通过eda软件自动生成MBIST电路进行......
液晶显示(LCD)控制器芯片是面向液晶显示器应用的高集成度图形图像显示芯片,其主要作用是为电子信息设备所使用的液晶显示器件提供......
现代SOC电路设计中，存储器特别是SRAM模块的面积占有很大的一部分。通常测试这些存储器采用的方法是通过EDA工具来生成MBIST电路来......
