薄膜测量相关论文
成像椭偏仪是一种新兴的椭偏测量仪器,因其兼具椭偏测量的薄膜测量精度和显微测量的高空间分辨率而吸引了大量从事二维材料性质研......
随着薄膜器件在光通信、航空航天、生物医学、新能源等前沿领域的广泛应用,薄膜技术的相关研究也日益深入。薄膜的厚度参数直接影......
研究了一种采用横向塞曼激光器并且没有任何运动部件的外差干涉椭偏测量系统。由非理想的激光源、偏振分光镜等器件所产生的非线性......
太赫兹波段作为一个研究的空白区域，由于其在透视性、安全性等方面的优势，近几十年内得到了极大的发展。人们渐渐的开始从光波方向和......
随着光学薄膜膜系设计理论和镀膜技术的不断成熟和完善，高反射率光学薄膜的设计和制备已经成为现实，并且已经广泛应用于激光技术的研......
本文从光学薄膜激光损伤机理出发，对影响光学薄膜激光损伤阈值的因素和提高光学薄膜抗激光损伤的技术等进行了讨论。对于在不同制备......
薄膜作为一种特殊的结构,具有与块状材料不同的独特性能,在光学、信息、生物、航天等领域得到广泛应用。薄膜的各种特性直接决定着......
磁性薄膜的应用越来越广泛,使得人们更加关注薄膜的磁性能表征。在磁性薄膜的很多应用中,其薄膜的厚度变得越来越薄,使得薄膜磁特......
随着激光技术的发展和高功率激光的广泛应用，给光学薄膜的发展带来了新的挑战。光学薄膜的吸收损耗是影响薄膜性能的重要参数，已成为......
自导波光学问世以来,由于它在未来信息社会巨大的应用潜力,一直受到学术界和技术界的高度重视.经过三十余年的发展,今天已初步成为......
铁电薄膜具有铁电性、压电性、介电性、热释电性、光折射效应、电光效应和非线性光学效应等一系列特殊的物理性质,在非易失性铁电......
为了检测压电薄膜的在电场作用下的微小形变,同时避免基底弯曲效应的影响,设计了一 种双光束探测干涉仪,通过反馈控制和锁相检测技......
斯托克斯椭偏仪一般使用定标的方法来测量其仪器矩阵,其仪器矩阵的优劣直接影响了被测光线斯托克斯参量的精确度与稳定度,从而影响......
目的是将用于测量片状试样的热扩散率的激光闪光法推广至测量薄膜试样.应用15纳秒脉冲Nd:YAG激光及响应时间0.9微秒的(Hg,Cd)Te红......
在扫描电子显微观察的同时，用ＥＤＳ测量薄膜的厚度及其元素的深度分布［１，２］简便可行。薄膜厚度的测量例１．载玻片上的ＣｏＣｕ膜。对载玻片、Ｃｕ底膜和ＣｏＣｕ膜，用ＥＤＳ分......
为了实现对纳米级薄膜的快速测量，运用了基于分振幅斯托克斯参量测量的椭偏测厚的方法，对该方法中的原理、计算和参量测量方法进行研......
分析了椭偏测厚实验存在的困难,采用Authorware等工具软件,成功地设计和编制一套椭偏测厚实验的CAI仿真程序。使用表明,软件界面友......
分析了大学物理实验中传统的消光式椭偏仪实验存在的问题,提出以一种新型外差式椭偏测量系统取代.结合塞曼激光外差干涉和反射式椭......
介绍了用反射干涉频谱法测量透明或半透明薄膜表面平整度的方法,薄膜厚度的测量范围约在0.2～20 μm(小于20 μm)之间.在对二氧化硅......
介绍一种薄膜组织的图像分割算法,该算法包括中值滤波、形态滤波器等图像预处理技术,和基于离散动态边界模型(DDC)的图像分割方法......
结合激光外差干涉法和透射式椭偏测量原理,研究了一种快速、高精度测量纳米厚度薄膜光学参数的方法.给出了光学系统设计和理论分析......
给出三波长光干涉测量纳米级薄膜厚度的方法。通过对某负压磁头／玻璃盘空气薄膜的测试表明：三波长光干涉法具有精度高、容易实施等优......
随着微纳制造技术的发展,微结构测试尤其是表面形貌测试、薄膜厚度测试已成为当前微纳米测量技术的重要方向之一。表面形貌是否符......
叙述了为提高数据传输可靠性,在接收精密仪器所采集的数据过程中考虑将原有RS232串口通信,改进为USB接口通讯。但是接收到的信号出......
基片在薄膜应力作用下产生宏观弯曲变形,使入射光线的入射角在基片不同位置产生偏差.根据空间两直线夹角公式,计算了入射光线在曲......
白光干涉光谱技术作为一种新兴的无损、高效、高精度的测量方法在微纳尺度的几何量测试等相关领域得到了愈来愈广泛的应用。白光干......
综述了深紫外光学薄膜技术在中科院长春光学精密机械与物理研究所的研究进展。为满足高性能深紫外光学系统对薄膜光学元件的需求,......
斯托克斯参量可全面描述光束的偏振态,分析了偏振光的斯托克斯参量的意义及其测量方法。通过测量纳米级薄膜样品的入射和反射偏振......
针对具有离子选择透过性的先进薄膜材料对不同离子的选择性通过特性测试的问题,使用虚拟仪器技术开发了一套软硬件系统对其进行自......
提出了根据测量得到的待测薄膜的透射率数据,采用全局优化算法-自适应模拟退火算法结合共轭梯度算法求解薄膜的光学特性参数.并对T......
