背散射相关论文
针对传统多波束背散射图像底质分类中基于角响应特征分类分辨率低、基于像素统计性特征分类抗噪性低的问题，提出一种基于对象的多波......
推导了一种理论计算背散射检查系统穿透力的方法,该方法利用康普顿散射截面公式,计算X射线在钢板上的散射截面以及穿透钢板后在聚......
电子束焊接技术以其高能量密度、高熔透性、焊接变形区小、易于控制、能焊接难熔及异种金属等传统焊接方法无法替代的优点,在国防......
动态光散射已经成为稀溶液内超细颗粒表征的标准手段,是普遍应用的纳米颗粒粒度测量方法,但对于高浓度纳米颗粒粒度的测量,由于多......
理论上分析了双向环形气体激光中背散射和饱和效应对光场统计性质的影响,求出了强度相关函数的有效本征值。与实验测量值比较表明,......
用背散射光强研究了多重散射随机介质中隐藏物体位置的确定,由强度的分布曲线确定出隐藏物体的位置,并实验研究了隐藏物体在多重散......
真空蒸发制备每cm~2几到十几μg厚的薄膜层很难控制,为此在真空蒸发装置上增设石英微量天平控厚。我们用背散射技术测定了用上述......
自1929年Weyl方程被提出后,迄今为止,Weyl方程所预言的Weyl费米子在高能物理领域一直没有被发现。然而,在凝聚态物理领域,随着元激......
染料敏化太阳能电池（dye-sensitized solar cells,DSSCs）由于其具有绿色环保、原材料丰富且来源广泛、成本低廉、制作工艺简单等诸多......
大面积薄膜的组分和厚度分布是实际工艺中最为关心的问题之一.利用实验和直接模拟Monte Carlo(DSMC)方法,分别研究了双电子束和三......
本文从实验上研究了用2MeV ~4He~+背散射对从几十nm到几个μm范围内的各种固体薄膜的厚度进行精确测量的方法。并对各种测量方法和......
用透射电子显微技术和背散射电子衍射(EBSD)研究了560、600和640℃三种不同回火温度对新型系泊链钢显微组织的影响,并用预充氢拉伸......
高反镜的背散射是形成激光陀螺腔内背散射的主要原因,散射光降低了器件的精度和灵敏度,通常高反射镜具有多层介质反射膜,而每层介......
安检设备已成为各个交通口岸、会议场馆等公共场所安全检查的必备设备，近几年来，各级政府及交通等职能部门为了保护好人民的生命及其......
利用从金属蒸汽真空弧 (简称 MEVVA)离子源引出的强束流脉冲钼离子对纯铝进行了不同束流密度的离子注入试验。钼离子的加速电压为 ......
为实现对硅基材料和MEMS器件内微体缺陷的无损、高效和准确检测 ,在研究广义洛仑兹 米氏散射理论的基础上 ,针对硅基材料和MEMS器......
采用卢瑟福背散射方法,测得了每质子能量为650 keV的H+2,H+3团簇离子在Si晶体和沟道条件下的质子背散射能谱.结果发现,由于H+2,H+3......
利用蒙特卡罗程序 Geant4 模拟康普顿背散射包裹检测,计算了 X 射线入射不同材料的康普顿背散射和透射情况,给出了背散射光子的空......
采用薄靶对能量 1.30 - 2 .2 1MeV质子在纯度为 99.99%硅上的非卢瑟福弹性背散射截面(16 0°背散射角 )进行了测量 .质子束由 2× ......
采用相对测量法对能量为0.15-2．00MeV的质子在天然硼上的非卢瑟福弹性背散射截面（160°背散射角）进行了测量。实验中，质子在本能区的最......
应用单次碰撞直接Monte Carlo方法模拟了keV级低能电子在超薄膜/固体衬底结构材料中的输运过程,计算研究了不同能量低能电子在几十......
采用卢瑟福背散射方法,测得了每质子能量为650 keV的H+2,H+3团簇离子在Si晶体和沟道条件下的质子背散射能谱.结果发现,由于H+2,H+3......
人体安检环节是防爆安检技术的重要组成部分，美国和欧盟在批量试用后，已经在该领域正式启用新型成像技术。本文在综述国内外人体安检......
金属基复合材料的制样难点在于基体和增强相物理性能差异大,采用机械-化学抛光、电解抛光等传统方法制样效率较低。离子抛光的制样......
射线检测,为避免卷尺测量布片画线的累计误差,非铁磁性材料采用磁铁定位画线;设计有人孔的储罐,合拢焊缝采用定向射线机检测,可以......
在低损耗薄膜背散仪的原理基础上，提出了一套使能量损耗最少的结构优化方法。在原始装置的基础上，通过加一λ／2波片和用一个齿轮传动......
低损耗薄膜背散仪是测量高反射膜片背向散射光的一种非接触式测量仪器.由于背向散射光很弱,在仪器设计过程中,光传输时的能量损耗......
为了加工具有高深宽比的器件,采用能量连续递减近似模型,运用蒙特卡罗方法分析高能电子束曝光领域的电子散射轨迹及背散射电子对曝......
为了避免探测系统的死时间问题,采用有机玻璃刀口作为散射体来降低探测系统死时间.通过分析来自有机玻璃散射体的背散射谱,测量了......
为设计适用于康普顿背散射成像系统，通过分析成像系统及CdZnTe探测器性能，并考虑到相应核电子学电路的噪声特性，设计了甄别级CdZnTe探......
单晶Si和蓝宝石(0001)是两种重要的3C-SiC异质外延衬底材料,然而,由于Si及蓝宝石和3C-SiC之间大的晶格失配度和热膨胀系数失配度,......
利用从金属蒸汽真空弧离子源引出的强束流Ta离子,进行Ta离子注入钢的材料改性研究.研究结果表明,在离子注入剂量为5×1017cm-2......
康普顿背散射成像是利用康普顿效应判断被照射物体内部结构的方法,广泛应用于工业和医学诊断领域.介绍应用MCNP程序模拟康普顿背散......
描述了一种以低活度133Ba为射线源的便携式背散射检测仪,可以对物体的藏匿空间内是否存在违禁品进行检测,并根据背散射能谱的特点......
采用由金属蒸汽真空弧(Metal Vapor Vacuum Arc 简称MEVVA)离子源引出的强束流脉冲钛离子对铁进行了离子注入表面改性研究.注入剂......
利用从金属蒸汽真空弧离子源引出的强束流Ta离子,进行了Ta离子注入铝的研究.研究结果表明,在离子注入剂量为5×1017cm-2,平均......
通过实例介绍了高能X-射线数字平板成像系统受射线背散射的影响，并给出解决的办法，供参考。......
用背散射/沟道、溅射剥层/背散射和二次离子质谱方法分析了分子束外延生长的Si/GexSi1-x多层膜.由2 MeV4He+离子背散射/沟道分析,......
晶粒大小和晶粒取向（材料的织构）对多晶材料的性能有重要影响。除上述组织因素以外，晶界特征分布也是影响材料性能的重要组织参数。所......
介绍了利用喇曼微探针测量晶体晶向的原理,对该方法作了详细描述;阐述了利用喇曼微探针测量晶体晶向较其他一些测量方法的优越性.......
用含有背散射和饱和效应的双模激光场的理论模型讨论了背散射和外加注入信号对环形激光场的统计性质的影响。结果表明，背散射可以抑......
利用X射线背散射成像技术可以方便地对物体进行原位成像,获得其浅层的电子密度信息。为了满足边境、口岸、重要集会活动等场所的应......
在油气储层研究中,为获得岩石结构特征、矿物类型与赋存状况、储集空间特征和其他成岩作用特征的高分辨率图像,常常会运用到扫描电......
背散射电子成像术（backscattered electron imagine，BSEI）是一种定量测定钙化组织中矿物质含量的技术。在牙齿发育与龋病发展的过程中......
