背散射相关论文
针对传统多波束背散射图像底质分类中基于角响应特征分类分辨率低、基于像素统计性特征分类抗噪性低的问题，提出一种基于对象的多波......
推导了一种理论计算背散射检查系统穿透力的方法,该方法利用康普顿散射截面公式,计算X射线在钢板上的散射截面以及穿透钢板后在聚......
电子束焊接技术以其高能量密度、高熔透性、焊接变形区小、易于控制、能焊接难熔及异种金属等传统焊接方法无法替代的优点,在国防......
在室温下,140keV Zn分别沿GaN的沟道方向和随机方向注入,注入剂量分别为1×10cm和3×10cm.高分辨透射电镜的观察结果表明,在3×10c......
该文报道了沟道离子束合成法研制稀土硅化物的实验新进展－－合成了高结晶品质的ＹＳｉ〈，１．７〉及其三元稀土硅化物Ｎｄ〈，０．３２〉Ｙ〈，０．６８〉Ｓｉ〈，１．７〉，并用背散射／沟道（ＲＢＳ／Ｃｈａｎｎｅｌｉｎｇ）技......
理论上分析了双向环形气体激光中背散射和饱和效应对光场统计性质的影响,求出了强度相关函数的有效本征值。与实验测量值比较表明,......
用背散射光强研究了多重散射随机介质中隐藏物体位置的确定,由强度的分布曲线确定出隐藏物体的位置,并实验研究了隐藏物体在多重散......
研究超声背散射零差K模型参数成像(简称零差K成像)监测微波消融凝固区的可行性,对比2种最新的零差K模型参数估算方法,即RSK法(基于......
利用离子束背散射沟道技术分析测量了室温条件下轻元素杂质掺入Si:Er系统后,对铒在硅中微观结构的影响.初步结果显示,轻元素氧的掺......
电子束光刻邻近效应校正技术是采用电子束直写光刻技术开展纳米器件和集成电路研制中的关键技术。虽然电子束光刻系统具有纳米级的......
本文主要对Zn沟道注入和随机注入对GaN造成的辐射损伤以及辐射损伤注入剂量的变化进行了分析和比较.结果表明,随机注入造成的辐照......
本文研究了掺钕钽酸锂组体背射几何组态下的喇曼光谱，与纯钽酸锂晶体的喇曼光谱相比，发现喇曼谱中不仅有Ｅ（ＬＯ＋ＴＯ）模向Ａ１（ＴＯ）模的转变，而且还有新振动......
用能量为２．８ＭｅＶ，剂量为１．４×１０＾１６ｉｏｌ／ｃｍ＾２的Ｈｅ＾＋在室温下注入到晶体材料ＬｉＴａＯ３中，形成了离子注入平板光波导。用棱镜耦合法观察了测量了ＬｉＴａＯ３波导导模的分布，并对退火前......
一、前言穆斯堡尔效应是一种无反冲的核γ射线共振吸收现象。近十余年来在腐蚀科学中得到广泛的应用,甚至有的腐蚀机理和现象只有......
本文综述了离子注入在高分子材料中应用的研究。着重介绍离子注入后引起的高分子材料物理、化学特性的交化,如电导率、光学特性以......
在石油化工装置中采用射线检测技术能够对石油化工装置的运行故障进行准确的诊断,另外还可以评价装置的运输状况、优化装置的操作......
香花石(Ca3Li2[BeSiO4]3F2,I213)是1958年在中国发现的第一个新矿物,它在地球上产出非常稀少.近年来对香花石的研究报道也很少.本......
通过在高纯ＡＩＮ基片表面层区域注入Ｃｕ离子及随后恒温退火制取了低能组态的Ｃｕ－ＡｌＮ双晶体。应用透射电子显微术（ＴＥＭ）及卢瑟夫背散射（ＲＳＳ）等技术研究了这种双......
用缓慢升温法成功研制出非铁电性二元系压电新晶体Ａｌ_（０．８８）Ｇａ_（０．１２）ＰＯ_４．通过原子光谱吸收、Ｒｕｔｈｅｒｆｏｒｄ背散射及Ｘ射线粉末衍射测定其组分及结构．并给出了新晶体的......
本文采用固相外延法在ＳＩＭＯＸ衬底上生长了β－ＦｅＳｉ２薄膜，采用Ｘ射线衍射（ＸＲＤ），卢瑟辐背散射（ＲＢＳ）以及自动扩展电阻测量研究了样品的多层结构，Ｒａｍａｎ谱表征说明它与直接......
小角激光背散射研究凝胶溶胀过程结构性质原续波盛京何庆（天津大学材料科学与工程系天津３０００７２）ＴｈｅＳｔｕｄｙｏｎＳｗｅｌｉｎｇＰｒｏｃｅｓｓｏｆＧｌｕｃｏｓｅＳｅｎｓｉｔｉｖｅＣｈｉｔｏｓａｎＧｅｌｓＬｏａｄｅｄＷｉｔｈＥｎｚｙｍｅＢｙＳｍａｌ...
Small Angle Laser Backscattering ......
对在ＧａＡｓ（００１）、Ａｌ２Ｏ３（０００１）和Ｓｉ（１１１）等衬底上ＭＯＣＶＤ技术生长的ＧａＮ薄膜进行了背散射几何配置下的喇曼散射测试分析和比较，观察到了α相ＧａＮ的Ａ１（ＬＯ）模、Ａ１（ＴＯ）模、Ｅ１（ＬＯ）模和Ｅ２模．结合Ｘ射线衍射谱，分......
用组合技术和离子束技术相结合的方法进行了硅基发光材料的研究。用组合离子束技术在硅基材料上制备了６４个直径为２ｍｍ的单元－材料芯片，并对......
运用红外反射谱，背散射谱和二次离子质谱等方法研究ＨｇＣｄＴｅ注入Ｂ、Ｐ、Ｉｎ和Ａｓ等元素的掺杂与损伤特性。
The doping and damage properties of Hg......
将组合技术和离子束技术结合起来，用于硅基发光材料的研究。用组合离子束技术在硅 基材料上制备了６４个直径为２ｍｍ的单元──材料芯片，并对......
研究了具有渐变电导率的圆柱体的散射问题，得到了圆柱体散射微分截面的数值解及其与圆柱体内部的电导率、半径和入射电磁波频率的关......
Ｘ射线被原子的芯能级吸收后，激发产生的光电子波在传播过程中被周围的原子散射，同源产生的带有周围原子结构信息的散射波（物波）与未被散......
本文详细地分析了离子注入掺铒硅的光致发光谱，有５个发光峰分别位于１．５３６μｍ、１．５５４μｍ、１．５７０μｍ、１．５９８μｍ和１．６４０μｍ，其中１．５３６μｍ发光峰最强．结合背散射谱，认为其有效的发......
对热轧的Zr-1Nb板材进行了不同变形量的冷加工,利用背散射电子衍射(EBSD)以及透射电子显微镜(TEM)研究了冷加工及热处理对其组织的......
真空蒸发制备每cm~2几到十几μg厚的薄膜层很难控制,为此在真空蒸发装置上增设石英微量天平控厚。我们用背散射技术测定了用上述......
藉助于等效几何关系,推导了一组确定电子通道花样几何关系的公式。从电子通道带的包络公式可以得出,带的宽度是同测量位置有关。此......
为了精确测量原地细粒或粘性悬浮沉积物的质量浓度,曾采用很多方法.在衰减和背散射两方面,光电浊度计常用干测量0—20g/l范围的质......
1987年,我校从荷兰飞利浦公司引进一台CM12/STEM多功能新型透射电子显微镜,12月在测试中心安装完毕。该型电镜是目前我国引进最先......
本文首先应用透射 Mssbauer 法测定了一组标准样品中奥氏体的含量,并且从实验上得到了与已知含量相吻合的结果。然后用背散射 X ......
本文提出用电子探针对基质中含有颗物的试样定量分析的原理和方法。对基质中颗粒物里的组成元素或化合物,引入了有效占有度W,把体......
牛津分析仪器有限公司将为一项开发计划提供资金,这项计划采用超声背散射技术检验奥氏体钢的晶粒尺寸。这项技术为英国有色金属工......
为模拟辐射效应,使用增强质子背散射、SEM、TEM和显微硬度等测量手段进一步研究了He离子注入HR-1型不锈钢中的行为。离子束能量和......
本矿床属石英脉型，近年发现于滇西南边陲。作者以背散射扫描电镜、电子探针及等离子光谱诸方法，对矿石中黄铁矿的矿物标型特征做了较......
利用电子束蒸镀实现了Ti/Ni/Au多层膜在CVD金刚石膜上的金属化 ,并研究了预处理和后处理工艺对多层膜在基底上结合的影响 ,发现高......
自1929年Weyl方程被提出后,迄今为止,Weyl方程所预言的Weyl费米子在高能物理领域一直没有被发现。然而,在凝聚态物理领域,随着元激......
